特許

J-GLOBAL ID：201303041059997021

測定装置、眼科撮影装置、制御方法及びプログラム

発明者： 楠本 博
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-126195
公開番号（公開出願番号）：特開2013-248259
出願日： 2012年06月01日
公開日（公表日）： 2013年12月12日
要約：

【課題】 被検査物である眼底の高横分解能な平面画像を迅速に撮像し、眼底上の所望の位置を撮像することが可能となる装置を提供することを目的とする。【解決手段】 AOSLO装置においては、被検物に照射したビーコン光(測定光)206-3の戻り光に基づいて波面センサ255で収差を測定する。更に、収差を測定する測定光206-3を発生させるための光源201-3と、測定光206-3を被検物に合焦させるフォーカスレンズ235-16とを有する。制御PC106は特定の被検物の識別情報にそれぞれ対応するフォーカスレンズ235-16の状態を示す情報等の撮影パラメータを記憶部から取得する。そして、制御PC106は、取得された撮影パラメータに基づいて、当該特定の被検物に測定光206-3を照射するためにフォーカスレンズ235-16の位置を制御する。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

被検物に照射した測定光の戻り光に基づいて収差を測定する測定装置であって、 測定光の光源と、 前記測定光を被検物に合焦させる合焦手段と、 特定の被検物の識別情報に対応する前記合焦手段の位置を示す情報を記憶部から取得する取得手段と、 前記取得された前記合焦手段の位置を示す情報に基づいて前記合焦手段の位置を制御する制御手段と、 を有することを特徴とする測定装置。

IPC (2件)：

A61B 3/12 ,  A61B 3/10

FI (3件)：

A61B3/12 E ,  A61B3/10 N ,  A61B3/10 R

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 眼底撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-111455   出願人：株式会社ニデック
• 眼科装置及び眼科装置システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-401963   出願人：株式会社トプコン
• 眼科装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-331045   出願人：キヤノン株式会社

審査官引用 (3件)

• 眼底撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-111455   出願人：株式会社ニデック
• 眼科装置及び眼科装置システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-401963   出願人：株式会社トプコン
• 眼科装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-331045   出願人：キヤノン株式会社