特許
J-GLOBAL ID：201303041774115850
外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福永 正也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-001642
公開番号（公開出願番号）：特開2013-142558
出願日： 2012年01月06日
公開日（公表日）： 2013年07月22日
要約：
【課題】追加学習により不良品であるにもかかわらず良品であると誤判定されているか否かを確認することができる外観検査装置、外観検査方法、及びコンピュータプログラムを提供する。【解決手段】良品とされる画像群を構成する複数の画像の入力を受け付けて記憶し、記憶されている複数の画像に基づいて、検査対象物の欠陥部分を検出するための欠陥閾値及び良否判定を行うための判定閾値を設定する。不良品であると判定された不良品画像を記憶し、新たに検査対象物を撮像して取得した画像の入力を受け付けた場合、入力を受け付けた画像を含む記憶されている複数の画像を用いて良品学習処理を実行して少なくとも欠陥閾値を再設定する。再設定された欠陥閾値に基づいて欠陥部分を検出し直し、設定された判定閾値に基づいて記憶されている不良品画像が不良品であるか否かを判定し、良否の判定結果を表示する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
検査対象物を撮像して取得した画像を、良品とされる画像群と比較して良否判定を行う外観検査装置であって、
良品とされる画像群を構成する複数の画像の入力を受け付けて記憶する画像入力手段と、
記憶されている複数の画像に基づいて、検査対象物の欠陥部分を検出するための欠陥閾値及び良否判定を行うための判定閾値を設定する閾値設定手段と、
不良品であると判定された不良品画像を記憶する不良品画像記憶手段と、
新たに検査対象物を撮像して取得した画像の入力を受け付けた場合、入力を受け付けた画像を含む記憶されている複数の画像を用いて良品学習処理を実行して少なくとも前記欠陥閾値を再設定する閾値再設定手段と、
再設定された欠陥閾値に基づいて欠陥部分を検出し直し、設定された判定閾値に基づいて記憶されている不良品画像が不良品であるか否かを判定する良否判定手段と、
良否の判定結果を表示する判定結果表示手段と
を備えることを特徴とする外観検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (25件)：
2G051AA01
, 2G051AB02
, 2G051AB11
, 2G051AC21
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA09
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EA21
, 2G051EA23
, 2G051EA25
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED01
, 2G051ED08
, 2G051ED09
, 2G051ED21
, 2G051ED22
, 2G051FA01
