特許
J-GLOBAL ID:201303042973119853
半導体集積回路装置及びそれを用いたシステム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
玉村 静世
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-064785
公開番号(公開出願番号):特開2013-196542
出願日: 2012年03月22日
公開日(公表日): 2013年09月30日
要約:
【課題】性能低下を抑制しつつ、故障の検出を向上させることが可能な半導体集積回路装置を提供する。【解決手段】複数のスレッドをクロックに従って切り替えながら実行する半導体集積回路装置であって、スレッドの実行に際して使用されるレジスタが、それぞれのスレッド毎に設けられる。複数のスレッドとして、互いに独立したプログラムと、互いに同じプログラムが切り替えながら実行される。互いに同じプログラムを複数のスレッドで実行する際、それぞれのスレッドに対応して設けられたレジスタを用いた実行結果を比較する比較回路が設けられる。【選択図】図22
請求項(抜粋):
それぞれがソフトウエアの実行単位である複数のスレッドを、クロックに同期して切り替えながら実行する半導体集積回路装置であって、
上記複数のスレッドのうち、第1スレッドの実行において用いられる第1レジスタと、
上記複数のスレッドのうち、上記第1スレッドとは異なる第2スレッドの実行において用いられる第2レジスタと、
上記第1及び第2スレッドが、互いに同じ特定ソフトウエアの実行単位で有るとき、上記第1スレッドの実行の結果と上記第2スレッドの実行の結果とを比較する比較回路と
を具備し、上記第1レジスタは上記第2レジスタとは異なるレジスタである半導体集積回路装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G06F11/18 310C
, G06F9/46 410
Fターム (3件):
5B034AA02
, 5B034CC01
, 5B034DD01
引用特許:
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