特許

J-GLOBAL ID：201303043877344257

携帯型質量分析計のための低流量でのイオン差動移動度ベース周囲圧力イオン事前フィルタリングとイオン集束との結合

発明者： ミラー, ラーナン エー. ,  ナザロフ, アーキンジョン ジー. ,  モリス, シー. ジェイムズ ,  コイ, スティーブン ,  クライロフ, エブゲニー ,  デイビス, ディー. ウェスターベルト
出願人/特許権者： ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド
代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-524905
公開番号（公開出願番号）：特表2013-502046
出願日： 2010年08月13日
公開日（公表日）： 2013年01月17日
要約：

イオンの移動度に基づいて大気圧で作動する前置フィルターと、イオン流をイオン検出器の中へと配向させるイオン集束アセンブリ、例えば、質量分析計(MS)とを備える、イオンを分析するための方法および装置。移動度に基づくフィルターは、円筒状電場非対称波形イオン移動度分析計(FAIMS)、平面または吸引示差移動度分析計(DMS)、またはイオン移動度分析計(IMS)であり得る。イオン集束アセンブリは、イオンが通って流れる開口部を有する2つのグリッドと、2つのDC電源と、グリッド間に電場を生成するための時変電源とを備える。

請求項（抜粋）：

試料分析システムであって、 複数のイオン流内に配置されるイオンを受容するためのイオン入口と、 該イオンを検出するためのイオン検出器と、 該イオン入口からの該複数のイオン流を少なくとも1つの集束イオン流の中に集め、該少なくとも1つの集束イオン流を該イオン検出器に向かって配向するためのイオン集束アセンブリと を備える、システム。

IPC (4件)：

H01J 49/40 ,  H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62

FI (4件)：

H01J49/40 ,  H01J49/42 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62 E

Fターム (10件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA05 ,  2G041GA13 ,  2G041HA03 ,  5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ04 ,  5C038JJ11