特許

J-GLOBAL ID：201303046624741232

粒子ビーム発生装置

発明者： クラフト, ゲルハルト ,  齋藤 奈美 ,  シャルト, ディーター
出願人/特許権者： ジーエスアイ ヘルムホルツツェントゥルム フュア シュヴェリオーネンフォルシュング ゲーエムベーハー
代理人 (5件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-509580
公開番号（公開出願番号）：特表2013-533953
出願日： 2011年05月26日
公開日（公表日）： 2013年08月29日
要約：

本発明は、2つの粒子ビーム(12、13)を発生する加速器ユニット(3、8、10)と、被加工物(15)に向けてそれら2つの粒子ビーム(12、13)を出力する放射ユニット(20)とを備える粒子ビーム発生装置(1)に関する。2つの粒子ビーム(12、13)は、種類の異なるビームである。本発明は、粒子ビーム発生装置を制御する方法に更に関する。

請求項（抜粋）：

粒子ビーム(12、13)を発生する少なくとも1つの加速器ユニット(3、8、10)と、 前記少なくとも1つの粒子ビーム(12、13)を被加工物(15)に向けて出力する少なくとも1つの放射ユニット(20)と を備え、少なくとも質量及び電荷のいずれかが異なるハドロン粒子を含む少なくとも2つの粒子ビーム(12、13)が、少なくとも部分的であるか、少なくとも間欠的であるかの少なくともいずれかの態様において放射されることを特徴とする粒子ビーム発生装置(1)。

IPC (6件)：

G21K 5/00 ,  G21K 5/04 ,  G21K 3/00 ,  G01T 1/29 ,  G21K 1/093 ,  A61N 5/10

FI (9件)：

G21K5/00 M ,  G21K5/04 A ,  G21K5/04 D ,  G21K3/00 W ,  G21K3/00 Y ,  G01T1/29 A ,  G01T1/29 B ,  G21K1/093 D ,  A61N5/10 H

Fターム (15件)：

2G088FF13 ,  2G088FF14 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ27 ,  2G088KK09 ,  2G088KK24 ,  2G088KK29 ,  2G088KK35 ,  2G088LL13 ,  4C082AA01 ,  4C082AC04 ,  4C082AE01 ,  4C082AG02 ,  4C082AJ06 ,  4C082AP01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-113358   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
• 医療システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-028881   出願人：株式会社日立製作所