特許
J-GLOBAL ID:201303046796909950
SiCOHLOW-K膜の蒸着方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (14件):
蔵田 昌俊
, 福原 淑弘
, 中村 誠
, 野河 信久
, 白根 俊郎
, 峰 隆司
, 幸長 保次郎
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 井関 守三
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
, 竹内 将訓
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-554022
公開番号(公開出願番号):特表2013-520030
出願日: 2011年02月17日
公開日(公表日): 2013年05月30日
要約:
次世代の誘電体膜に適切な誘電率およびヤング率を有するSiCOH膜を成膜するために適合した前駆体が開示される。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
基板上にSiCOH膜層を形成する方法であって、
少なくとも1つの基板をその中に有する反応チャンバーを準備する工程、
以下の群から選択されるSi-(CH2)n-Si含有前駆体(n=1または2を伴なう)を前記反応チャンバー内に導入する工程、
IPC (3件):
H01L 21/316
, C23C 16/42
, C23C 16/50
FI (3件):
H01L21/316 X
, C23C16/42
, C23C16/50
Fターム (19件):
4K030AA01
, 4K030AA06
, 4K030AA14
, 4K030AA16
, 4K030BA44
, 4K030BA48
, 4K030CA04
, 4K030CA12
, 4K030DA08
, 4K030FA01
, 4K030LA02
, 4K030LA15
, 5F058BA20
, 5F058BC02
, 5F058BC04
, 5F058BF07
, 5F058BF22
, 5F058BH01
, 5F058BH17
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