特許
J-GLOBAL ID：201303047227388859
電子部品搬送装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 宮坂 一彦
, 渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-146195
公開番号（公開出願番号）：特開2013-235009
出願日： 2013年07月12日
公開日（公表日）： 2013年11月21日
要約：
【課題】配置位置に取り残された電子部品を簡単な構成でありながらも確実に検出することのできる電子部品検査装置を提供する。【解決手段】ICハンドラは、ICチップを所定の検査用ソケットに移動配置させ、所定の圧力で押圧してその電気的検査を行う。ICハンドラは、ICチップを把持する把持装置28と、把持装置28を上下移動させる検査用ヘッド22の制御を行う制御装置とを備え、検査用ヘッド22は、所定の配置位置としての検査用ソケットの上方に移動した把持装置28を下降させ、該下降が停止されたときの同把持装置28の上下方向の位置を検出し、前記検出された位置から検査用ソケットにおける電子部品の有無を判別する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
電子部品を所定の検査用ソケットに移動配置させ、所定の圧力で押圧してその電気的検査を行う電子部品検査装置であって、
前記電子部品を把持する把持手段と、前記把持手段を上下移動させる上下移動手段の制御を行う制御手段とを備え、
前記上下移動手段は、所定の配置位置の上方に移動した把持手段を下降させ、該下降が停止されたときの同把持手段の上下方向の位置を検出し、前記検出された位置から前記所定の配置位置における電子部品の有無を判別する
ことを特徴とする電子部品検査装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01R31/26 Z
, G01R31/26 J
2G003AD09
, 2G003AF02
, 2G003AG01
, 2G003AG11
, 2G003AG14
, 2G003AH01
, 2G003AH02
, 2G003AH03
, 2G003AH04
, 2G003AH06
, 2G003AH07
