特許
J-GLOBAL ID：201303047275790294

チップ抵抗器

発明者：
中山 祥吾

中山 祥吾 について

, 
谷口 恒太

谷口 恒太 について


出願人/特許権者：
パナソニック株式会社

パナソニック株式会社 について


代理人 (3件)： 内藤 浩樹 ,  永野 大介 ,  藤井 兼太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-042943
公開番号（公開出願番号）：特開2013-179212
出願日： 2012年02月29日
公開日（公表日）： 2013年09月09日
要約：
【課題】本発明は、サージやESD等の高電圧が印加されても抵抗値が変動せずかつ電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。【解決手段】本発明のチップ抵抗器は、抵抗体13の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、抵抗体13にレーザ照射によって形成されたL字状の第1、第2のトリミング溝17、18を、前記抵抗体13の前記一対の上面電極12a、12bが向かい合う方向に沿った一方の側面13aに始点17a、18aを有し、前記一対の上面電極12a、12bが向かい合う方向と直角の垂直部17b、18bと、この垂直部17b、18bの先端部17c、18cから連続して形成された前記一対の上面電極12a、12bが向かい合う方向と平行の水平部17d、18dとで構成するとともに、前記水平部17d、18dのそれぞれの先端部17e、18eを互いに対向させたものである。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成されたL字状の第1のトリミング溝、第2のトリミング溝とを備え、前記抵抗体の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、前記第1、第2のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、前記一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された前記一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、前記第1、第2のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させたチップ抵抗器。
IPC (2件)：
H01C 7/00 ,  H01C 17/242
FI (2件)：
H01C7/00 A ,  H01C17/24 L
Fターム (12件)：
5E032BA11 ,  5E032BA15 ,  5E032BB01 ,  5E032CA02 ,  5E032TA14 ,  5E032TB02 ,  5E033AA02 ,  5E033AA03 ,  5E033BC01 ,  5E033BD01 ,  5E033BF05 ,  5E033BH02
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • チップ抵抗器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-191182   出願人：太陽社電気株式会社
  • チップ型抵抗器とその製造方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-194387   出願人：立山科学工業株式会社
  • 抵抗器
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-012550   出願人：松下電器産業株式会社

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