特許
J-GLOBAL ID：201303047659973388

デフォーカスを用いたイメージセンサのシェーディング補正用チャート検査方法、検査装置、およびイメージセンサ

発明者：
今川 剛

今川 剛 について

, 
平井 広一

平井 広一 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 高橋 省吾 ,  稲葉 忠彦 ,  村上 加奈子 ,  中鶴 一隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-056097
公開番号（公開出願番号）：特開2013-191990
出願日： 2012年03月13日
公開日（公表日）： 2013年09月26日
要約：
【課題】イメージセンサの調整、試験において、イメージセンサが複数のセンサチップから構成されている場合、センサチップの感度差の影響によりセンサチップ間で出力輝度に大きな差異があると、1)良品範囲を定める出力輝度の標準偏差の値が大きくなるため、2)また、センサチップの境界部において、注目画素の副走査方向の輝度の平均値と、注目画素の周囲画素の輝度の平均値の差が大きくなるため、イメージセンサの良・不良判定が困難となる。【解決手段】イメージセンサのシェーディング補正用チャートについて、正規の距離で撮像したデータと、デフォーカスして撮像したデータを用いて、同一画素での差分データを生成し、この差分データを閾値処理することでシェーディグ補正用チャート上の異物や傷を検出し、異物や傷がないと判断できれば正規の距離で撮像したシェーディング補正用チャートのデータを白基準値としてイメージセンサのメモリに格納する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
イメージセンサを用い、正規の距離で撮像したシェーディング補正用チャートのデータと、デフォーカスして撮像したシェーディング補正用チャートのデータを用いて、同一画素の差分データを生成し、当該生成した同一画素の差分データを閾値処理することで、シェーディング補正用チャート上の異物や傷の発生を検出するデフォーカスを用いたイメージセンサのシェーディング補正用チャート検査方法。
IPC (2件)：
H04N 1/19 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
H04N1/04 103E ,  G06T1/00 400C
Fターム (16件)：
5B047AA30 ,  5B047BB02 ,  5B047BC14 ,  5B047BC23 ,  5B047CB22 ,  5B047DA04 ,  5B047DC09 ,  5C072AA01 ,  5C072BA08 ,  5C072DA23 ,  5C072EA04 ,  5C072FB12 ,  5C072FB25 ,  5C072UA02 ,  5C072UA11 ,  5C072VA10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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