特許
J-GLOBAL ID：201303048499262796
光測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 石田 悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-043343
公開番号（公開出願番号）：特開2013-101160
出願日： 2013年03月05日
公開日（公表日）： 2013年05月23日
要約：
【課題】 マイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能な光測定装置を提供する。【解決手段】 測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレート20に対して照射光を照射するための光照射装置及び該光照射装置を備える光測定装置であって、略同一形状の複数の凸部61eが形成された主面61aと、該主面61aと反対側の面である裏面61hと、主面61aと略直交する側面61bと、を有する導光部材61と、導光部材61の側面61bから導光部材61に照射光61bを入射する光源装置62と、を備え、凸部61eは、主面61aと略平行な上面61fを有し、導光部材61は、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20の裏面23に接するように配置可能である。また、導光部材61は、凸部61eの上面61fがマイクロプレート20のウェル21の底面に対向するように配置可能である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象物を収容するための複数のウェルが設けられたマイクロプレートからの光を測定する光測定装置であって、
略同一形状の複数の凸部が形成された主面と、該主面と反対側の面である裏面と、前記主面と前記裏面との間の側面と、を有する導光部材と、
前記導光部材の前記側面から前記導光部材に照射光を入射する光源と、
前記導光部材の前記裏面からの測定光を検出する検出器と、を備え、
前記凸部は、平坦な上面を有し、
前記導光部材は、前記主面が前記マイクロプレートに対向するように配置されている、
ことを特徴とする光測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA01
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043HA05
, 2G043JA03
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043MA01
