特許
J-GLOBAL ID:201303049961455356
物理量測定装置、物理量測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-118458
公開番号(公開出願番号):特開2013-245984
出願日: 2012年05月24日
公開日(公表日): 2013年12月09日
要約:
【課題】連続パルスの入力信号のパルス間隔を基準クロックでカウントする際に、基準クロックの周波数を高くすることなく、カウント精度を向上させる。【解決手段】入力信号を基準クロックに同期させて同期入力信号を生成する同期部と、n周期を1ユニットとして、同期入力信号1ユニットに含まれる基準クロックの個数のnユニット分の合計値を計測する計数部と、端数信号を発生させる端数発生部と、端数信号2n回について、前半のn回の端数信号に基づく値を加算し、後半のn回の端数信号に基づく値を減算して端数積算信号を出力する端数積算部と、端数積算信号を基準クロックの個数に変換する補正計数部と、入力信号1ユニットに含まれる基準クロックの個数を算出する演算部と、を備えた物理量測定装置。【選択図】図1
請求項(抜粋):
連続パルスの入力信号を基準クロックに同期させて同期入力信号を生成する同期部と、
n周期を1ユニットとして、前記同期入力信号1ユニットに含まれる前記基準クロックの個数のnユニット分の合計値を計測する計数部と、
前記入力信号に対する前記同期入力信号の遅れ時間に相当する端数信号を発生させる端数発生部と、
前記端数信号2n回について、前半のn回の端数信号に基づく値を加算し、後半のn回の端数信号に基づく値を減算して端数積算信号を出力する端数積算部と、
前記端数積算信号を前記基準クロックの個数に変換する補正計数部と、
前記、前記およびnに基づいて、前記入力信号1ユニットに含まれる前記基準クロックの個数を算出する演算部と、
を備えたことを特徴とする物理量測定装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R23/10 C
, G04F10/04 A
Fターム (10件):
2F085AA05
, 2F085CC10
, 2F085GG06
, 2F085GG14
, 2G029AA02
, 2G029AD01
, 2G029AD07
, 2G029AE17
, 2G029AF08
, 2G029AH01
引用特許:
審査官引用 (2件)
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周波数測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-231729
出願人:株式会社アドバンテスト
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特開昭62-294993
引用文献:
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