特許

J-GLOBAL ID：201303050776330286

二次電池の充電制御装置、二次電池の充電制御方法、二次電池の充電状態推定装置、二次電池の充電状態推定方法、二次電池の劣化度推定装置、二次電池の劣化度推定方法、及び、二次電池装置

発明者： 松原 健二 ,  上坂 進一 ,  田中 雅洋
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (3件)： 山本 孝久 ,  吉井 正明 ,  森 幸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-120454
公開番号（公開出願番号）：特開2013-247003
出願日： 2012年05月28日
公開日（公表日）： 2013年12月09日
要約：

【課題】実使用環境下で二次電池の劣化度を定量的に判定し、次回の充電電圧を設定することを可能とする二次電池の充電制御装置を提供する。【解決手段】正極及び負極を有する二次電池の充電を制御する充電制御装置20は、(A)二次電池60の劣化度を検出・評価する劣化度検出・評価部30、及び、(B)充電制御部40を備えており、劣化度検出・評価部30における二次電池60の劣化度の評価結果に基づき、充電制御部40は、二次電池40の充電時における電極への電圧印加状態を制御する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

正極及び負極を有する二次電池の充電を制御する充電制御装置であって、 (A)二次電池の劣化度を検出・評価する劣化度検出・評価部、及び、 (B)充電制御部、 を備えており、 劣化度検出・評価部における二次電池の劣化度の評価結果に基づき、充電制御部は、二次電池の充電時における電極への電圧印加状態を制御する、二次電池の充電制御装置。

IPC (8件)：

H01M 10/48 ,  H01M 4/58 ,  H01M 10/44 ,  H01M 4/587 ,  H01M 10/052 ,  G01R 31/36 ,  H02J 7/00 ,  H02J 7/10

FI (11件)：

H01M10/48 P ,  H01M4/58 101 ,  H01M10/44 P ,  H01M10/44 A ,  H01M10/44 Q ,  H01M4/58 103 ,  H01M10/00 103 ,  G01R31/36 A ,  H02J7/00 Y ,  H02J7/10 B ,  H02J7/10 D

Fターム (39件)：

2G016CA03 ,  2G016CB00 ,  2G016CB05 ,  2G016CB11 ,  2G016CB23 ,  2G016CB33 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC06 ,  2G016CC07 ,  2G016CC10 ,  2G016CC20 ,  2G016CC23 ,  2G016CF06 ,  2G016CF07 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB02 ,  5G503CA01 ,  5G503CA11 ,  5G503CA17 ,  5G503CB11 ,  5G503CC02 ,  5G503EA08 ,  5H029AK01 ,  5H029AK03 ,  5H029AL02 ,  5H029AL07 ,  5H030AA10 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H050BA17 ,  5H050CA01 ,  5H050CA08 ,  5H050CB02 ,  5H050CB08