特許
J-GLOBAL ID:201303051063924565
半導体記憶装置及びその制御方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (16件):
蔵田 昌俊
, 福原 淑弘
, 中村 誠
, 野河 信久
, 白根 俊郎
, 峰 隆司
, 幸長 保次郎
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 井関 守三
, 赤穂 隆雄
, 井上 正
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
, 竹内 将訓
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-055396
公開番号(公開出願番号):特開2013-200937
出願日: 2013年03月18日
公開日(公表日): 2013年10月03日
要約:
【課題】選択ワード線と、選択ワード線の両側にある非選択ワード線とのカップリング利用して、所望の電圧を選択ワード線に印加する。【解決手段】半導体装置は、複数の第1の配線と、複数の第2の配線と、第1と第2の配線とが交差する領域に形成されたメモリセルと、第1の配線に電圧を印加する複数の第1のドライバと、第1のドライバにそれぞれ電圧を印加する第2のドライバと、を備え、第2のドライバは、選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧を印加し、選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧と同等かそれ以上の第2の電圧を印加し、選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧よりも低い第3の電圧を印加する場合、選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧よりも低く、第3の電圧よりも高い第4の電圧を印加する。【選択図】図7
請求項(抜粋):
第1の方向に延伸し、前記第1の方向に直交する第2の方向に沿って配置される複数の第1の配線と、
前記第2の方向に延伸し、前記第1の方向に沿って配置される複数の第2の配線と、
前記第1の配線と前記第2の配線とが交差する領域に形成され、整流素子及び記憶層が積層された構造を有するメモリセルと、
前記第1の配線に電圧をそれぞれ印加する複数の第1のドライバと、
前記第1のドライバにそれぞれ電圧を印加する複数の第2のドライバと、
前記第2の配線に電圧を印加する第3のドライバと、
を備え、
前記第2のドライバは、
前記第1の配線の中から選択される第1の配線に接続される前記第1のドライバに、第1の電圧を印加し、
前記選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧と同等かそれ以上の第2の電圧を印加し、
前記選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低い第3の電圧を印加する場合、前記選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低く、前記第3の電圧よりも高い第4の電圧を印加し、
隣接する他の第2のドライバが前記第1のドライバに印加している電圧を計測し、他の第2のドライバが印加する電圧が前記第1の電圧から前記第3の電圧に変化した場合に、前記第1のドライバに前記第4の電圧を印加し、
隣接する他の第2のドライバが前記第1のドライバに印加している電圧を計測し、他の第2のドライバが印加する電圧が前記第3の電圧から前記第1の電圧に変化した場合に、前記第1のドライバに前記第2の電圧を印加し、
前記第2のドライバは、前記メモリセルへの書き込み時または消去動作時に、前記第1の配線の中から対応する前記第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧を印加し、
前記第3のドライバは、前記第2の配線の中から選択される第2の配線に前記第1の電圧よりも低く、前記第3の電圧よりも高い第5の電圧を印加し、前記第2のドライバが、前記選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低い前記第3の電圧を印加する前に、前記選択される第2の配線に前記第1の電圧と同等かそれ以上の第6の電圧を印加する
半導体記憶装置。
IPC (1件):
FI (3件):
G11C13/00 150
, G11C13/00 120A
, G11C13/00 110R
引用特許:
審査官引用 (4件)
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-297097
出願人:株式会社東芝
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-200979
出願人:ソニー株式会社
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半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-036472
出願人:株式会社東芝
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不揮発性半導体記憶装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-040426
出願人:株式会社東芝
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