特許
J-GLOBAL ID:201303051063924565

半導体記憶装置及びその制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (16件): 蔵田 昌俊 ,  福原 淑弘 ,  中村 誠 ,  野河 信久 ,  白根 俊郎 ,  峰 隆司 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  井関 守三 ,  赤穂 隆雄 ,  井上 正 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-055396
公開番号(公開出願番号):特開2013-200937
出願日: 2013年03月18日
公開日(公表日): 2013年10月03日
要約:
【課題】選択ワード線と、選択ワード線の両側にある非選択ワード線とのカップリング利用して、所望の電圧を選択ワード線に印加する。【解決手段】半導体装置は、複数の第1の配線と、複数の第2の配線と、第1と第2の配線とが交差する領域に形成されたメモリセルと、第1の配線に電圧を印加する複数の第1のドライバと、第1のドライバにそれぞれ電圧を印加する第2のドライバと、を備え、第2のドライバは、選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧を印加し、選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧と同等かそれ以上の第2の電圧を印加し、選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧よりも低い第3の電圧を印加する場合、選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される第1のドライバに、第1の電圧よりも低く、第3の電圧よりも高い第4の電圧を印加する。【選択図】図7
請求項(抜粋):
第1の方向に延伸し、前記第1の方向に直交する第2の方向に沿って配置される複数の第1の配線と、 前記第2の方向に延伸し、前記第1の方向に沿って配置される複数の第2の配線と、 前記第1の配線と前記第2の配線とが交差する領域に形成され、整流素子及び記憶層が積層された構造を有するメモリセルと、 前記第1の配線に電圧をそれぞれ印加する複数の第1のドライバと、 前記第1のドライバにそれぞれ電圧を印加する複数の第2のドライバと、 前記第2の配線に電圧を印加する第3のドライバと、 を備え、 前記第2のドライバは、 前記第1の配線の中から選択される第1の配線に接続される前記第1のドライバに、第1の電圧を印加し、 前記選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧と同等かそれ以上の第2の電圧を印加し、 前記選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低い第3の電圧を印加する場合、前記選択される第1の配線に隣接する第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低く、前記第3の電圧よりも高い第4の電圧を印加し、 隣接する他の第2のドライバが前記第1のドライバに印加している電圧を計測し、他の第2のドライバが印加する電圧が前記第1の電圧から前記第3の電圧に変化した場合に、前記第1のドライバに前記第4の電圧を印加し、 隣接する他の第2のドライバが前記第1のドライバに印加している電圧を計測し、他の第2のドライバが印加する電圧が前記第3の電圧から前記第1の電圧に変化した場合に、前記第1のドライバに前記第2の電圧を印加し、 前記第2のドライバは、前記メモリセルへの書き込み時または消去動作時に、前記第1の配線の中から対応する前記第1の配線に接続される前記第1のドライバに、前記第1の電圧を印加し、 前記第3のドライバは、前記第2の配線の中から選択される第2の配線に前記第1の電圧よりも低く、前記第3の電圧よりも高い第5の電圧を印加し、前記第2のドライバが、前記選択される第1の配線に接続される第1のドライバに、前記第1の電圧よりも低い前記第3の電圧を印加する前に、前記選択される第2の配線に前記第1の電圧と同等かそれ以上の第6の電圧を印加する 半導体記憶装置。
IPC (1件):
G11C 13/00
FI (3件):
G11C13/00 150 ,  G11C13/00 120A ,  G11C13/00 110R
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 半導体記憶装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-297097   出願人:株式会社東芝
  • 半導体装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-200979   出願人:ソニー株式会社
  • 半導体記憶装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-036472   出願人:株式会社東芝
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