特許

J-GLOBAL ID：201303052058820618

撮像装置及び撮像方法

発明者： 加茂野 隆 ,  三宅 明
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-212968
公開番号（公開出願番号）：特開2013-070867
出願日： 2011年09月28日
公開日（公表日）： 2013年04月22日
要約：

【課題】 被検体が撮像装置内に配置された後にアライメントを行うX線タルボ干渉法用撮像装置において、アライメント時に被検体に照射されるX線量を低下させること。【解決手段】 撮像装置1は、X線源2からのX線を回折することで干渉パターンを形成する回折格子3と、回折格子を経たX線を検出する検出器5と、X線源と前記被検体の間に配置可能なX線を遮るシャッタ21と、アライメントを行う調節機構を備える。シャッタはX線源と被検体の間に配置されたとき、シャッタによってX線の照射を遮られる第1の空間30と、シャッタによってX線の照射を遮られない第2の空間31を形成し、被検体は第1の空間に配置される。 また、調節機構は、第2の空間を経て検出器により検出されるX線の強度分布の少なくとも一部に基づいてアライメントを行う。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

X線源からのX線を回折することで明部と暗部が配列した干渉パターンを形成する回折格子と、前記回折格子を経たX線を検出する検出器とを備え、前記X線源と前記検出器との間に配置された被検体を撮像するX線撮像装置であって、 前記X線源と前記被検体の間に配置可能なX線を遮るシャッタと、 前記X線源と前記回折格子と前記検出器とのうちの少なくともいずれか2つの相対位置、及び/又は、前記X線源と前記回折格子と前記検出器とのうち少なくともいずれか1つの姿勢、を調節する調節機構と、を備え、 前記シャッタは前記X線源と前記被検体の間に配置されたとき、 前記シャッタによってX線の照射を遮られる第1の空間と、 前記シャッタによってX線の照射を遮られない第2の空間と、を形成し、 前記被検体は前記第1の空間に配置され、 前記調節機構は、 前記第2の空間を経て前記検出器により検出されるX線の強度分布の少なくとも一部に基づいて、前記X線源と前記回折格子と前記検出器とのうちの少なくともいずれか2つの相対位置、及び/又は、前記X線源と前記回折格子と前記検出器とのうち少なくともいずれか1つの姿勢、を調節することを特徴とするX線撮像装置。

IPC (4件)：

A61B 6/00 ,  G01N 23/04 ,  A61B 6/10 ,  G01N 23/20

FI (5件)：

A61B6/00 330Z ,  G01N23/04 ,  A61B6/10 303 ,  A61B6/00 300 ,  G01N23/20

Fターム (16件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001GA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA03 ,  4C093AA07 ,  4C093AA14 ,  4C093CA34 ,  4C093EA12 ,  4C093EA20 ,  4C093EB22 ,  4C093EB30 ,  4C093FA15