特許

J-GLOBAL ID：201303053019551690

光干渉断層撮影装置

発明者： 牧平 朋之 ,  佐藤 眞 ,  宮田 和英 ,  岩瀬 好彦 ,  山田 和朗 ,  富田 律也 ,  木辺 乃介 ,  新畠 弘之
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-082372
公開番号（公開出願番号）：特開2013-208393
出願日： 2012年03月30日
公開日（公表日）： 2013年10月10日
要約：

【課題】 解像度や撮影範囲に対応する断層画像を効率的に撮像する。【解決手段】 解像度を選択する手段と、 選択された解像度に応じた中心波長の撮影光の断層画像をそれぞれ取得する断層像取得手段と、を有する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

解像度を選択する手段と、 選択された前記解像度に応じた中心波長の撮影光の断層画像をそれぞれ取得する断層像取得手段と、 備えることを特徴とする光干渉断層装置。

IPC (2件)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/14

FI (2件)：

A61B3/10 R ,  A61B3/14 M