特許

J-GLOBAL ID：201303059451179252

等価回路解析装置および等価回路解析方法

発明者： 田中 秀明 ,  春原 雅志
出願人/特許権者： 日置電機株式会社
代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-126815
公開番号（公開出願番号）：特開2013-250223
出願日： 2012年06月04日
公開日（公表日）： 2013年12月12日
要約：

【課題】等価回路の各パラメータを高い精度で解析して算出する。【解決手段】ナイキストプロット曲線Aを作成するプロット曲線作成処理と、この曲線Aにおける円弧状領域Wに対応する半円Bを算出するフィッティング処理と、半円Bの横軸との接点P1,P2での各実数成分値R1,R2と半円Bの直線L1との交点P3での周波数fcとに基づいて等価回路を構成する容量成分を算出する容量算出処理とを実行する際に、実数成分値が交点P3での実数成分値の前後となる一対の特定プロットPa,Pbでの周波数の差分値(fa-fb)をそれらの実数成分値の差分値(Rb-Ra)で除算して周波数変化量を算出し、一方の特定プロットPbでの実数成分値Rbおよび交点P3での実数成分値の差分値にこの周波数変化量を乗算して得られる乗算値と特定プロットPbでの周波数fbとを加算して、周波数fcを算出する周波数算出処理を実行する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

測定対象のインピーダンスについての周波数特性に基づいて各周波数での前記インピーダンスの実数成分値を横軸の座標とし、かつ当該インピーダンスの虚数成分値を縦軸の座標とするプロットで構成されるナイキストプロット曲線を作成するプロット曲線作成処理と、前記作成されたナイキストプロット曲線における円弧状領域に含まれる前記プロットの前記実数成分値および前記虚数成分値に基づいて当該円弧状領域に対応する半円をカーブフィッティング法によって算出するフィッティング処理と、前記算出した半円の前記横軸との2つの接点での前記各実数成分値と当該算出した半円の当該半円の中心を通過する前記縦軸と平行な直線との交点での前記周波数とに基づいて前記測定対象の等価回路を構成する容量成分を算出する容量算出処理とを実行する処理部を備え、 前記処理部は、前記プロットのうちの前記実数成分値が前記交点での前記実数成分値の前後となる一対の特定プロットでの前記周波数の差分値を当該一対の特定プロットでの前記実数成分値の差分値で除算して単位実数成分値当たりの周波数変化量を算出すると共に、当該一対の特定プロットのうちのいずれか一方の特定プロットでの前記実数成分値および前記交点での前記実数成分値の差分値に前記周波数変化量を乗算して得られる乗算値と、当該一方の特定プロットでの前記周波数とに基づいて前記交点での前記周波数を算出する周波数算出処理を実行する等価回路解析装置。

IPC (2件)：

G01R 27/02 ,  G01R 31/36

FI (2件)：

G01R27/02 A ,  G01R31/36 A

Fターム (19件)：

2G016CB00 ,  2G016CB06 ,  2G016CC00 ,  2G016CC01 ,  2G016CC04 ,  2G016CC06 ,  2G016CC26 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CD10 ,  2G016CD14 ,  2G016CE03 ,  2G028BE04 ,  2G028CG08 ,  2G028DH04 ,  2G028DH11 ,  2G028GL07 ,  2G028GL09 ,  2G028LR08