シール不良検査機

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山田英穂
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-086364
公開番号（公開出願番号）：特開2002-243702
特許番号：特許第4825954号
出願日： 2001年02月19日
公開日（公表日）： 2002年08月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】内部に食品などの導電性内容物が充填され、上端縁に一定幅の鍔を有した有底筒状の絶縁樹脂材料製容器の上側を絶縁材料製の薄板の上蓋で密封したカップ包装容器に接触する一対の電極間に交流又は直流の電圧を印加し、もしも要検査部にシール不良がある場合に当該個所に発生する閃絡電流の有無を調べてシール不良を検出するシール不良検査機において、前記筒状容器の外周部に沿って分割して配設される複数の第1電極と、前記上蓋の外周よりも小径の外周を有して検査時に前記上蓋上面に接触する第2電極と、前記第1電極を、前記筒状容器の外方に離間した「開」位置と、前記筒状容器の外周に接触する「閉」位置との間を検査時に移動させる移動手段と、前記鍔の下面に接触す前記第1および第2電極間に高電圧を印加可能にすると共に該電極間を接続した回路に発生する閃絡電流の多寡によりシール不良を検出するシール不良検出回路を具えたことを特長としたシール不良検査機。

IPC (4件)：

G01N 27/92 ( 200 6.01) , B65B 57/00 ( 200 6.01) , B65B 57/02 ( 200 6.01) , G01M 3/40 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01N 27/92 A , B65B 57/00 A , B65B 57/02 F , G01M 3/40 A

引用特許：

出願人引用 (9件)

ピンホール検査機
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-256455 出願人：日新電子工業株式会社
ピンホール検査機
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-275651 出願人：日新電子工業株式会社
密封包装容器の密封不良検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-211192 出願人：日新電子工業株式会社

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審査官引用 (9件)

ピンホール検査機
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-256455 出願人：日新電子工業株式会社
ピンホール検査機
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-275651 出願人：日新電子工業株式会社
密封包装容器の密封不良検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-211192 出願人：日新電子工業株式会社

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