特許
J-GLOBAL ID:201303060085014677
3次元形状計測装置およびキャリブレーション方法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
世良 和信
, 和久田 純一
, 中村 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-021835
公開番号(公開出願番号):特開2013-160596
出願日: 2012年02月03日
公開日(公表日): 2013年08月19日
要約:
【課題】照明装置の端部付近に対応する傾きを有する表面であっても、精度良くその向きを計測する3次元形状計測装置を提供する。【解決手段】反射特性が未知の計測対象物4の表面形状を測定する3次元形状計測装置であって、所定の照明パタンで前記計測対象物4に光を照射する照明手段3と、前記計測対象物4を撮像する撮像手段1と、複数の反射特性および複数の法線方向の組合せについて、当該反射特性および法線方向を有する表面に対して前記照明パタンの光を照射したときの前記表面からの反射光に関する特徴量を記憶する参照テーブルと、前記撮像手段1によって撮像された画像から前記計測対象物4の各位置における前記特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記特徴量算出手段によって算出された前記特徴量と、前記参照テーブルとに基づいて、前記計測対象物4の各位置における表面の法線方向を求める形状算出手段と、を有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
反射特性が未知の計測対象物の表面形状を測定する3次元形状計測装置であって、
所定の照明パタンで前記計測対象物に光を照射する照明手段と、
前記計測対象物を撮像する撮像手段と、
複数の反射特性および複数の法線方向の組合せについて、当該反射特性および法線方向を有する表面に対して前記照明パタンの光を照射したときの前記表面からの反射光に関する特徴量を記憶する参照テーブルと、
前記撮像手段によって撮像された画像から前記計測対象物の各位置における前記特徴量を算出する特徴量算出手段と、
前記特徴量算出手段によって算出された前記特徴量と、前記参照テーブルとに基づいて、前記計測対象物の各位置における表面の法線方向を求める形状算出手段と、
を有する3次元形状計測装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (12件):
2F065AA35
, 2F065AA53
, 2F065FF04
, 2F065FF44
, 2F065GG11
, 2F065GG21
, 2F065HH07
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065RR06
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