特許
J-GLOBAL ID:201303061393745190
デバッグ装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (4件):
村山 靖彦
, 志賀 正武
, 渡邊 隆
, 実広 信哉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-056195
公開番号(公開出願番号):特開2013-196707
出願日: 2013年03月19日
公開日(公表日): 2013年09月30日
要約:
【課題】本発明は、共通性が高く、且つ使用に便利であるデバッグ装置を提供することである。【解決手段】本発明に係るデバッグ装置は、端末装置の故障情報を検出するために用いられ、故障情報は、デバッグコードによって表示される。また、前記デバッグ装置は、プロセッサと、このプロセッサに電気的に接続された第一コネクタと、第二コネクタと、表示部と、を備え、第一コネクタと第二コネクタは、端末装置に接続されるために用いられ、プロセッサは、第二コネクタによって端末装置からデバッグコードを獲得して記憶し、且つ表示部を制御して表示させるために用いられ、記憶されたデバッグコードは、第一コネクタによって端末装置に伝送される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
端末装置の故障情報を表示するために用いられ、前記故障情報は、デバッグコードによって表示されるデバッグ装置であって、
プロセッサと、前記プロセッサに電気的に接続された第一コネクタと、第二コネクタと、表示部と、を備え、
前記第一コネクタと前記第二コネクタは、前記端末装置に接続され、
前記プロセッサは、前記第二コネクタによって前記端末装置から前記デバッグコードを獲得して記憶し、且つ前記表示部を制御して前記デバッグコードを表示させ、
記憶部に記憶されたデバッグコードは、前記第一コネクタによって前記端末装置に伝送されることを特徴とするデバッグ装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G06F11/32 E
, G06F11/30 C
Fターム (4件):
5B042GC02
, 5B042HH03
, 5B042MA09
, 5B042MC16
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