特許
J-GLOBAL ID：201303066478038207
等価回路解析装置及び等価回路解析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小宮 良雄
, 大西 浩之
, 中山 実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-172950
公開番号（公開出願番号）：特開2013-036849
出願日： 2011年08月08日
公開日（公表日）： 2013年02月21日
要約：
【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、この誤差を無くすためにいずれの素子定数をどのように変化させればよいかということを測定者が判断する必要が無く、簡便な操作で正確な素子定数を得ることができる等価回路解析装置を提供する。【解決手段】等価回路解析装置1は、タッチパネル10と、DUT90の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、タッチパネル10にグラフで表示させる測定部2と、DUT90の周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する推定部3と、等価回路の周波数特性を算出してそのグラフ及び各素子定数を表示させる理論特性演算部5と、タッチパネル10に表示されている等価回路のグラフの部位に接触してから、その接触位置をタッチパネル上で移動させる移動操作に対応させて、等価回路の素子定数を変更する素子定数変更処理部6とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
画像の表示機能及び接触による操作の検出機能を有するタッチパネルと、
測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、該タッチパネルにグラフで表示させる測定部と、
該測定部の測定した該測定対象物の周波数特性に基づいて、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を推定する推定部と、
該等価回路の理論的な複素インピーダンスの周波数特性を算出して、該タッチパネルにグラフで表示させると共にその各素子定数を表示させる理論特性演算部と、
該タッチパネルに表示されている該等価回路のグラフの部位に接触してから、その接触位置を該タッチパネル上で移動させる移動操作に対応させて、該等価回路の該素子定数を変更する素子定数変更処理部とを備えることを特徴とする等価回路解析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (16件)：
2G028AA01
, 2G028AA02
, 2G028BB01
, 2G028BB06
, 2G028BB07
, 2G028BB12
, 2G028BB13
, 2G028BD02
, 2G028BE04
, 2G028CG02
, 2G028CG06
, 2G028CG07
, 2G028CG20
, 2G028LR02
, 2G028LR08
, 2G028LR20
