特許

J-GLOBAL ID：201303066481819708

非破壊検査装置

発明者： 野瀬 裕之 ,  小林 徹也 ,  関本 清英 ,  戸田 勝哉 ,  岩崎 初美
出願人/特許権者： 株式会社IHI ,  株式会社IHIインフラ建設
代理人 (1件)： 志賀 正武
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2011055079
公開番号（公開出願番号）：WO2011-108709
出願日： 2011年03月04日
公開日（公表日）： 2011年09月09日
要約：

本発明に係わる非破壊検査装置(A)は、中性子線発生部(2)と、前記中性子線発生部(2)から供給された中性子線(u1)を検査対象物に対して走査状に照射する中性子線照射部(3)と、前記中性子線(u1)が検査対象物によって回折された回折中性子線(u1)を前記中性子線照射部(3)の走査位置に応じて検出する回折線検出部(5)と、前記回折線検出部(5)の検出信号に基づいて検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出するデータ処理部(6,7)とを具備する。

請求項（抜粋）：

中性子線発生部と、 前記中性子線発生部から供給された中性子線を検査対象物に対して走査状に照射する照射部と、 中性子線が検査対象物によって回折された回折中性子線を照射部の走査位置に応じて検出する検出部と、 前記検出部の検出信号に基づいて、検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出するデータ処理部と を具備する非破壊検査装置。

IPC (1件)：

G01N 23/204

FI (1件)：

G01N23/204

Fターム (28件)：

2G001AA04 ,  2G001AA05 ,  2G001AA07 ,  2G001BA18 ,  2G001CA02 ,  2G001CA04 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA05 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001GA01 ,  2G001GA03 ,  2G001GA04 ,  2G001GA05 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001GA13 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001KA08 ,  2G001LA06 ,  2G001SA03 ,  2G001SA16