特許
J-GLOBAL ID：201303067593638044
測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-217914
公開番号（公開出願番号）：特開2013-076673
出願日： 2011年09月30日
公開日（公表日）： 2013年04月25日
要約：
【課題】分析チップの温度調節を行うための温度調節用部材に結露が生じた場合でも、測定結果に影響を及ぼさないようにする。【解決手段】分析チップ10のセンサ部において被検出物質と結合した光応答性標識物質から生じる光を検出して被検物質の分析を行う光検出法を用いた測定装置において、上面の所定の測定位置において分析チップ10を接触させて分析チップの温度調節を行うためのアルミブロック70と、アルミブロック70の温度を制御する温度制御手段80と、外部から装填された分析チップ10を、アルミブロック70の上面を摺動させて測定位置まで移動させる不図示の分析チップ移動手段とを備え、アルミブロック70の上面に、分析チップ10が上面を摺動した際に集積された水滴を回収するためのスリット71を設ける。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
分析チップのセンサ部において被検出物質と結合した光応答性標識物質から生じる光を検出して被検物質の分析を行う光検出法を用いた測定装置であって、
上面の所定の測定位置において前記分析チップを接触させて該分析チップの温度調節を行うための温度調節用部材と、
該温度調節用部材の温度を制御する温度制御手段とを備え、
前記温度調節用部材の上面には、物体が前記上面を摺動することに伴い集積された水滴を回収するスリットが設けられていることを特徴とする測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (15件)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA01
, 2G043DA06
, 2G043DA08
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GA23
, 2G043GB01
, 2G043GB07
, 2G043GB28
, 2G043HA02
, 2G043LA01
, 2G043NA16
