特許

J-GLOBAL ID：201303068801852086

波形分析装置および波形分析方法

発明者： 植野 研 ,  米澤 実
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝エレベータ株式会社
代理人 (19件)： 蔵田 昌俊 ,  高倉 成男 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  福原 淑弘 ,  峰 隆司 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  井関 守三 ,  赤穂 隆雄 ,  井上 正 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-082056
公開番号（公開出願番号）：特開2013-210945
出願日： 2012年03月30日
公開日（公表日）： 2013年10月10日
要約：

【課題】センサデータから対象物の正常・異常状態の値を算出する。【解決手段】監視対象をセンサにより観測して複数の変量に関する複数の時系列データを取得するセンシング部30と、前記監視対象の状態を判定する判定部39と、前記監視対象の正常または異常の定量状態値を算出する算出部と、を具備する波形分析装置が提供される。前記判定部39は、前記複数の時系列データからのセグメントデータと判定モデルとに基づいて前記監視対象の正常の尤度および異常の尤度をそれぞれ計算し、前記正常および異常のうち尤度の大きい方に前記監視対象の状態を判定する。前記算出部は、既知の正常状態値に正常度合いを乗算した結果と既知の異常状態値に異常度合いを乗算した結果の和として、正常または異常の定量状態値を算出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

監視対象の正常および異常の事前確率を表し、前記監視対象の複数の変量のそれぞれの波形について、最良区間の識別情報、前記最良区間のセグメントデータ、前記セグメントデータに関連するクラス、前記最良区間の正常および異常の条件付き確率を表す判定モデルを記憶する記憶部と、 前記監視対象を複数のセンサにより観測して複数の変量に関する複数の時系列データを取得するセンシング部と、 前記複数の変量のそれぞれについて、前記複数の時系列データから前記最良区間の識別情報に従ってセグメントデータを選択する選択部と、 前記複数の時系列データからのセグメントデータと前記判定モデルとに基づいて前記監視対象の正常の尤度および異常の尤度をそれぞれ計算し、前記正常および異常のうち尤度の大きい方に前記監視対象の状態を判定する判定部と、 前記最近傍法による正常の場合の波形類似度の平均値と異常の場合の波形類似度の平均値から、正常度合いと異常度合いの比に基づく正常重みと異常重みとを求め、既知の正常状態値に前記正常度合いを乗算した結果と既知の異常状態値に前記異常度合いを乗算した結果の和として、正常または異常の定量状態値を算出する算出部と、を具備する波形分析装置。

IPC (5件)：

G05B 23/02 ,  B66B 3/00 ,  B66B 1/06 ,  B66B 1/30 ,  B66B 5/00

FI (6件)：

G05B23/02 T ,  G05B23/02 302S ,  B66B3/00 R ,  B66B1/06 L ,  B66B1/30 A ,  B66B5/00 G

Fターム (23件)：

3F002CA02 ,  3F002CA04 ,  3F002DA02 ,  3F002GA05 ,  3F002GA06 ,  3F002GA08 ,  3F303CB41 ,  3F303EA08 ,  3F304BA16 ,  3F304EA12 ,  3F304EA22 ,  4C117XB04 ,  4C117XE52 ,  4C117XG17 ,  4C117XH16 ,  4C117XJ46 ,  4C117XJ48 ,  4C117XL01 ,  4C117XR02 ,  5H223AA01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF06