特許

J-GLOBAL ID：201303069093203680

非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法

発明者： 米田 康司 ,  中道 大介
出願人/特許権者： 株式会社コベルコ科研
代理人 (3件)： 小谷 悦司 ,  小谷 昌崇 ,  櫻井 智
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-091873
公開番号（公開出願番号）：特開2013-221778
出願日： 2012年04月13日
公開日（公表日）： 2013年10月28日
要約：

【課題】1つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪みを高精度に測定することができる非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法を提供することを課題とする。【解決手段】本発明は、撮像部3によって取得された試験片2の画像データにおいて撮像部3の撮像視野6内の2つの標点M1、M2を演算データとして用いて試験片2の歪みに関する所定の物理量εを求め、演算用データとして用いていた2つの標点M1、M2の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記2つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算用データとして用いる標点23を当該撮像視野6内に在る2つの標点M3、M4に切り換え、これら切り換えられた2つの標点M3、M4から前記所定の物理量εを求めることを特徴とする。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

表面に複数の標点が設けられた試験片における当該試験片の歪みに関する所定の物理量を非接触で測定する非接触型歪み測定装置であって、 前記試験片を撮像する撮像部と、 前記撮像部によって取得した前記試験片の画像データにおいて、1又は複数の標点を含む標点領域であって前記撮像部の撮像視野内の2つの標点領域を演算データとして用いることによって前記所定の物理量を求める測定値演算部と、を備え、 前記測定値演算部は、前記所定の物理量を求めるために演算データとして用いていた前記2つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記2つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点領域を前記撮像視野内に在る2つの標点領域に切り換えることを特徴とする非接触型歪み測定装置。

IPC (2件)：

G01B 11/16 ,  G01N 3/06

FI (2件)：

G01B11/16 H ,  G01N3/06

Fターム (27件)：

2F065AA09 ,  2F065AA20 ,  2F065AA22 ,  2F065AA65 ,  2F065BB27 ,  2F065CC00 ,  2F065CC06 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065MM03 ,  2F065MM07 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2G061AA01 ,  2G061DA19 ,  2G061EA04 ,  2G061EB07 ,  2G061EC05