特許

J-GLOBAL ID：201303070301209572

最近傍点探索装置およびその方法、プログラム、3次元位置・姿勢認識装置およびその方法

発明者： 佐々 泰志
出願人/特許権者： 大日本スクリーン製造株式会社
代理人 (2件)： 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-287114
公開番号（公開出願番号）：特開2013-137591
出願日： 2011年12月28日
公開日（公表日）： 2013年07月11日
要約：

【課題】本発明は、最近傍点探索処理を高速化を実現することができる、最近傍点探索装置およびその方法、プログラム、3次元位置・姿勢認識装置およびその方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明にかかる最近傍点探索装置は、第1点群の分布の方向的な集中度を評価し、当該集中度が最も低い方向に沿うように、基準軸を設定する軸設定手段41と、取得手段13において取得した第2点群における各点を注目点として、各注目点の3次元位置に対応し、かつ、基準軸に沿う特定範囲において、第1点群の各点と注目点との距離を算出し、第1点群における最近傍点を探索する最近傍点探索手段22とを備える。【選択図】図17

請求項（抜粋）：

同一または互いに対応する3次元対象体をそれぞれが表現した、第1点群および第2点群の各点の3次元位置情報を取得する取得手段と、 前記取得手段において取得した前記第1点群の分布の方向的な集中度を評価し、当該集中度が最も低い方向に沿うように、基準軸を設定する軸設定手段と、 前記取得手段において取得した前記第2点群における各点を注目点として、各前記注目点の3次元位置に対応し、かつ、前記基準軸に沿う特定範囲において、前記第1点群の各点と前記注目点との距離を算出し、当該距離の最も近い前記第1点群の点である最近傍点を探索する最近傍点探索手段とを備えることを特徴とする、 最近傍点探索装置。

IPC (1件)：

G06T 7/60

FI (1件)：

G06T7/60 150P

Fターム (10件)：

5L096CA05 ,  5L096FA09 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA63 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09