特許
J-GLOBAL ID:201303071201296334

基材の処理方法、半導体装置および仮固定用組成物

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人SSINPAT
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-168479
公開番号(公開出願番号):特開2013-033814
出願日: 2011年08月01日
公開日(公表日): 2013年02月14日
要約:
【課題】基材の剥離時に基材の破損を良好に防ぐことが可能な、すなわち歩留まりのよい基材の処理方法を提供する。【解決手段】(1)支持体上に、シクロオレフィン重合体(A)および紫外線吸収剤(B)を含有する仮固定材を介して、基材を仮固定することにより、積層体を得る工程、(2)前記基材を加工し、および/または前記積層体を移動する工程、(3)支持体側から仮固定材に紫外線を照射する工程、ならびに(4)支持体から基材を剥離する工程をこの順で有する、基材の処理方法。【選択図】なし
請求項(抜粋):
(1)支持体上に、シクロオレフィン重合体(A)および紫外線吸収剤(B)を含有する仮固定材を介して、基材を仮固定することにより、積層体を得る工程、 (2)前記基材を加工し、および/または前記積層体を移動する工程、 (3)支持体側から仮固定材に紫外線を照射する工程、ならびに (4)支持体から基材を剥離する工程 をこの順で有する、基材の処理方法。
IPC (2件):
H01L 21/02 ,  H01L 21/304
FI (3件):
H01L21/02 C ,  H01L21/02 B ,  H01L21/304 622J
Fターム (7件):
5F057AA05 ,  5F057BA11 ,  5F057CA14 ,  5F057DA11 ,  5F057EC03 ,  5F057FA15 ,  5F057FA22
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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