特許

J-GLOBAL ID：201303072276123334

測定光による観察装置

発明者： 湯淺 堂司
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-216775
公開番号（公開出願番号）：特開2013-075034
出願日： 2011年09月30日
公開日（公表日）： 2013年04月25日
要約：

【課題】観測光が微弱な場合においても,測定光の出射端面の反射をすることができる低減観察装置を提供する。【解決手段】レーザ光源101として,中心波長840nm,光出力7mWの9個の出力を持つ光源を用いる。ファイバカプラユニット102は分岐比90:10の2対1カプラが9個並列に並べられている。レーザ光源側から出射光ユニット103側に光が通過するときに10%透過するように配置されている。逆に,反射光が出射光ユニット103側から入射するときは,90%の光量が検出ユニット106に入射する。検出ユニット106の内部には各ファイバ端にAPD(アバランシェフォトダイオード)が設けられ,検出光を電気信号に変えて検出する。出射光ユニット103から出射された測定光は,走査光学系104でコリメートされガルバノスキャナで走査され,対物レンズ105で眼底110上に集光される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定光源と、 前記測定光源から発せられた測定光の出射光軸に対して斜めの出射端面を有する出射光ユニットと、 を備えることを特徴とする観察装置。

IPC (4件)：

A61B 3/10 ,  G02B 21/00 ,  G01N 21/17 ,  A61B 10/00

FI (5件)：

A61B3/10 R ,  G02B21/00 ,  G01N21/17 625 ,  G01N21/17 620 ,  A61B10/00 E

Fターム (20件)：

2G059AA03 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2H052AA07 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AF02 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25