特許
J-GLOBAL ID:201303074679935811

光学ガラスの仮想温度の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  義村 宗洋
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2011065053
公開番号(公開出願番号):WO2012-002493
出願日: 2011年06月30日
公開日(公表日): 2012年01月05日
要約:
被測定光学ガラスと同じ組成をもつとみなせる複数の検量線作成用光学ガラス試料に対して、それぞれ異なる温度で熱処理を行い、縦波音速、LSAW速度、横波音速のいずれか1つを音響特性AP1として測定し、熱処理温度と音響特性AP1が線形な範囲において、熱処理温度を仮想温度Tfとして、音響特性AP1に対する仮想温度の関係を近似線形式として求める。被測定光学ガラスの音響特性AP1を測定し、測定した音響特性AP1から近似線形式を使って仮想温度を計算する。
請求項(抜粋):
光学ガラスの仮想温度を測定する方法であり、 (1-A) 同一の組成をもつ複数の検量線作成用ガラス試料に対し、それぞれ異なる熱処理温度で熱処理を行う工程と、 (1-B) 前記工程(1-A)で得られた試料に対して縦波音速、LSAW速度、横波音速のいずれか1つを音響特性AP1として測定する工程と、 (1-C) 前記熱処理温度を仮想温度とし、前記工程(1-B)で得られた音響特性AP1との関係を近似する次式 Tf=a×AP1+ b で表される近似直線式を決める工程と、Tfは仮想温度、aとbは定数であり、 (1-D) 前記検量線作成用ガラス試料と同一の組成をもつ被測定用光学ガラス試料に対して音響特性AP1を測定し、前記近似直線式を用いて仮想温度Tfを計算により求める工程、 とを含む光学ガラスの仮想温度の測定方法。
IPC (1件):
G01N 29/00
FI (1件):
G01N29/18
Fターム (3件):
2G047AA09 ,  2G047BC02 ,  2G047BC19

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