多重反射式飛行時間型質量分析器

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：吉田研二 , 石田純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-111126
公開番号（公開出願番号）：特開2013-179083
出願日： 2013年05月27日
公開日（公表日）： 2013年09月09日
要約：

【課題】本発明は、多重反射式飛行時間型質量分析器でイオンを反射させる方法を提供する。【解決手段】この方法は、複数の電極を有するイオンミラーを設けるステップであって、イオンミラーが、ミラー内のイオンの飛行時間分離方向に一般的に位置するイオンミラーの長手軸(Z)に各々が直交する第1の副軸(Y)及び第2の主軸(X)を有する断面を有するステップと、イオンをイオンミラーに向かって導くステップと、電界を生成するように電圧を電極に印加するステップであって、これが、(a)イオンの平均軌道を、ミラーの長手(z)軸及び主軸(X)を含むイオンミラーの対称平面に交差させ、(b)イオンをイオンミラーで反射させ、(c)イオンを、イオンミラーを通過するイオンの平均軌道が、対称平面に直交して且つそこから発散する方向(Y)における運動成分を有するような方向で、イオンミラーから脱出させる、ステップと、を包含する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

飛行時間型質量分析器でイオンを反射させる方法であって、複数の電極を有するイオンミラー(10a)を設けるステップであって、前記イオンミラー(10a)が、その断面であって前記イオンミラーの中におけるイオンのドリフト方向に概して位置する第1の副軸(Y)(300)と第2の主軸(X)(400)とを有する断面を、前記イオンミラー(10a)が前記主軸(X)(400)が、前記副軸(Y)(300)より長い距離にわたって延在するように有し、前記主軸(X)(400)と前記副軸(Y)(300)のそれぞれが、前記イオンミラー(10a)内におけるイオンの飛行時間分離の方向に概して位置する前記イオンミラー(10a)の長手軸(Z)(200)に垂直である、ステップと、イオンを前記イオンミラー(10a)に向かって導くステップと、電界を生成するように電圧を前記電極に印加するステップであって、これが、 (a)イオンの平均軌道を、前記ミラー(10a)の長手軸(Z)及び主軸(X)を含む前記イオンミラー(10a)の前記主軸(X)と前記長手軸(Z)からなる対称平面に交差させ、 (b)前記イオンを前記イオンミラー(10a)で反射させ、 (c)前記イオンを、前記イオンミラー(10a)を通過するイオンの平均軌道が、前記イオンミラー(10a)の前記対称平面に直交し、且つそこから分岐しているイオンのドリフト方向(Y)に運動成分を有するような方向で、前記イオンミラー(10a)から射出し、 (d)前記イオンミラーにおけるイオンのドリフト方向に平行な方向において、前記イオンの焦点形成を行う、ステップと、を含む方法。

IPC (4件)：

H01J 49/40 , H01J 49/10 , H01J 49/06 , G01N 27/62

FI (4件)：

H01J49/40 , H01J49/10 , H01J49/06 , G01N27/62 K

Fターム (6件)：

2G041CA01 , 2G041GA07 , 5C038FF04 , 5C038FF13 , 5C038GG07 , 5C038GG08

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭62-029049
特開昭57-044953

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