特許

J-GLOBAL ID：201303077800368376

磁性体特性解析プログラム、磁性体特性解析装置、及び磁性体特性解析方法

発明者： 清水 香壱
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (2件)： 伊東 忠彦 ,  山口 昭則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-280544
公開番号（公開出願番号）：特開2013-131072
出願日： 2011年12月21日
公開日（公表日）： 2013年07月04日
要約：

【課題】磁性体の特性の解析スピードの向上を図ること。【解決手段】磁性体特性解析装置に、解析対象が分割された各要素について与えられる平均磁化を用いて、有限要素法による磁場解析を行わせ、前記有限要素法による磁場解析により算出される磁界を固定値として前記各要素に作用する有効磁界を算出させ、前記算出した有効磁界を用いてLLG(Landau Lifshitz Gilbert)方程式を時間積分して前記各要素内で磁化ベクトルを算出させ、前記算出した磁化ベクトルを平均して前記各要素についての平均磁化を算出させることを特徴とする磁性体特性解析プログラム。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

磁性体特性解析プログラムにおいて、 磁性体特性解析装置に、 解析対象が分割された各要素について与えられる平均磁化を用いて、有限要素法による磁場解析を行わせ、 前記有限要素法による磁場解析により算出される磁界を固定値として前記各要素に作用する有効磁界を算出させ、 前記算出した有効磁界を用いてLLG(Landau Lifshitz Gilbert)方程式を時間積分して前記各要素内で磁化ベクトルを算出させ、 前記算出した磁化ベクトルを平均して前記各要素についての平均磁化を算出させることを特徴とする磁性体特性解析プログラム。

IPC (1件)：

G06F 17/50

FI (1件)：

G06F17/50 612H

Fターム (2件)：

5B046AA07 ,  5B046JA10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 3次元磁化モ-ド解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-353218   出願人：日本ビクター株式会社
• 磁化分布の解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-282745   出願人：ソニー株式会社
• 磁気変換デバイスの特性解析方法及びプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-215270   出願人：ティーディーケイ株式会社
• 磁界解析装置および磁界解析プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-148993   出願人：富士通株式会社