特許

J-GLOBAL ID：201303078345404705

異常検査方法および異常検査装置

発明者： 宮脇 健志 ,  大森 豊
出願人/特許権者： パナソニック株式会社
代理人 (3件)： 内藤 浩樹 ,  永野 大介 ,  藤井 兼太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-094343
公開番号（公開出願番号）：特開2013-221877
出願日： 2012年04月18日
公開日（公表日）： 2013年10月28日
要約：

【課題】装置の複雑化を招かずに、被検査物を検査できる異常検査方法を提供する。【解決手段】本発明は、第1センサで検出した回転体の振動に応じた振動信号を前記第1センサから取得する工程と、前記第1センサからの前記振動信号に基いて前記回転体の異音検査を実施する工程と、前記第1センサからの前記振動信号から前記回転体の回転数を算出する工程と、AEセンサで検出した前記回転体で発生するAEに応じたAE信号を前記AEセンサから取得する工程と、前記回転数と前記AE信号とに基いて前記回転体の回転によって発生する固有AE信号を検出する工程と、前記固有AE信号に基づいて前記回転体のAE検査を実施する工程と、前記異音検査と前記AE検査との結果に基いて前記回転体の異常の有無を判定する工程と、を含む異常検査方法を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1センサで検出した回転体の振動に応じた振動信号を前記第1センサから取得する工程と、 前記第1センサからの前記振動信号に基いて前記回転体の異音検査を実施する工程と、 前記第1センサからの前記振動信号から前記回転体の回転数を算出する工程と、 AEセンサで検出した前記回転体で発生するAEに応じたAE信号を前記AEセンサから取得する工程と、 前記回転数と前記AE信号とに基いて前記回転体の回転によって発生する固有AE信号を検出する工程と、 前記固有AE信号に基づいて前記回転体のAE検査を実施する工程と、 前記異音検査と前記AE検査との結果に基いて前記回転体の異常の有無を判定する工程と、を含む異常検査方法。

IPC (1件)：

G01H 17/00

FI (1件)：

G01H17/00 Z

Fターム (7件)：

2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064AB22 ,  2G064BA02 ,  2G064CC29 ,  2G064CC43 ,  2G064CC55