特許
J-GLOBAL ID:201303078917530030

装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-049552
公開番号(公開出願番号):特開2002-252173
特許番号:特許第4959876号
出願日: 2001年02月26日
公開日(公表日): 2002年09月06日
請求項(抜粋):
【請求項1】 シリコン膜にレーザービームを照射する装置であって、 シリコン膜に照射する前記レーザービームを発生させるレーザー装置と、 前記レーザー装置と前記シリコン膜との聞に設けられ、前記シリコン膜における前記レーザービームの照射位置を水平に囲む高周波を印加する加熱コイルと、を有し、 前記加熱コイルは、矩形コイルで、高周波誘導加熱により、前記シリコンの溶融状態を維持するものであり、 前記矩形コイルに囲まれた領域を通って、前記レーザービームが前記シリコン膜に照射されることを特徴とする装置。
IPC (5件):
H01L 21/20 ( 200 6.01) ,  G02F 1/1368 ( 200 6.01) ,  H01L 21/268 ( 200 6.01) ,  H01L 21/336 ( 200 6.01) ,  H01L 29/786 ( 200 6.01)
FI (5件):
H01L 21/20 ,  G02F 1/136 ,  H01L 21/268 G ,  H01L 21/268 Z ,  H01L 29/78 627 G
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 多結晶半導体膜の製造方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-259529   出願人:株式会社東芝
  • 特開昭62-259437
  • 特開昭63-261714
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