特許
J-GLOBAL ID:201303079720044130

レーザ溶接良否判定方法及び良否判定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長門 侃二
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2010064499
公開番号(公開出願番号):WO2011-024904
出願日: 2010年08月26日
公開日(公表日): 2011年03月03日
要約:
レーザ溶接による溶接部Wの溶接良否を判定するに際して、高速度カメラ11を用いて溶接部Wないしその近傍を撮影し、撮影した画像内の単位長さ辺りのスパッタPの数及び高輝度部面積をパラメータとして解析部12で解析し、この解析したパラメータをあらかじめ作成した対照テーブルに対比させて溶接部Waの溶接の良否を判定して、溶接部Wの溶接良否をモニタ13上に表示する。レーザ溶接による溶接部の良否判定のみならず剪断強度予測や破断モード予測をインプロセスで行うことができ、その結果、高速で且つ高精度なレーザ溶接に対応した品質管理を行うことが可能である。
請求項(抜粋):
レーザ溶接による溶接部の溶接良否を判定する方法であって、 高速度カメラを用いて前記溶接部ないしその近傍を撮影し、 撮影した画像内の単位長さ辺りのスパッタ数や高輝度部面積やキーホールの検出頻度などのパラメータを解析し、 この解析したパラメータと、あらかじめ作成した対照テーブルとの対比により前記溶接部の溶接の良否を判定して、この溶接良否結果をモニタ上に表示する ことを特徴とする。
IPC (2件):
B23K 26/00 ,  B23K 26/20
FI (2件):
B23K26/00 P ,  B23K26/20 310G
Fターム (6件):
4E068BF00 ,  4E068CA17 ,  4E068CB02 ,  4E068CC02 ,  4E068DB01 ,  4E068DB15

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