特許

J-GLOBAL ID：201303080317790998

電子機器設計システム、電子機器設計方法、及び電子機器設計用プログラム

発明者： 楠本 学 ,  川上 雅士
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (2件)： 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-029605
公開番号（公開出願番号）：特開2013-167960
出願日： 2012年02月14日
公開日（公表日）： 2013年08月29日
要約：

【課題】複数の信号源がある場合は、解析のための計算量が多くなってしまう。【解決手段】本発明における電子機器設計システムは、電子機器の設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定する信号源・観測点設定部と、観測点から複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算する伝達特性解析部と、複数の信号源におけるそれぞれの伝達特性と波形とを演算処理し、複数の信号源から観測点に伝わる波形を合成する特性合成部とを有し、合成した波形を出力することを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電子機器の設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定する信号源・観測点設定部と、 前記観測点から前記複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算する伝達特性解析部と、 前記複数の信号源におけるそれぞれの前記伝達特性と波形とを演算処理し、前記複数の信号源から前記観測点に伝わる波形を合成する特性合成部とを有し、 前記合成した波形を出力することを特徴とする電子機器設計システム。

IPC (1件)：

G06F 17/50

FI (1件)：

G06F17/50 662G

Fターム (3件)：

5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5B046JA07