特許
J-GLOBAL ID:201303084280557410
3次元陽子コンピュータ断層撮影のための高性能計算(HPC-PCT)
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
山本 秀策
, 森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-502916
公開番号(公開出願番号):特表2013-527918
出願日: 2011年04月04日
公開日(公表日): 2013年07月04日
要約:
撮像されるべき物体の第1の側に順番に並んだ2つの追跡検出器と、撮像されるべき物体の反対側に順番に並んだ2つの追跡検出器と、熱量計と、コンピュータクラスタとを含み、追跡検出器がプラスチックシンチレーションファイバを含む、陽子コンピュータ断層撮影(pCT)検出器システム。検出器システム内の全ファイバは、シリコン光電子増倍管(SiPM)によって読み出される。源から、2つの追跡検出器を通して、物体を通しておよび物体の周囲に、そして2つの反対側の追跡検出器を通して陽子を放出するステップと、熱量計によって、陽子のエネルギーを検出するステップと、物体を撮像するステップとによって物体を撮像する方法。
請求項(抜粋):
陽子コンピュータ断層撮影(pCT)検出器システムであって、
該システムは、
撮像されるべき物体の第1の側に順番に並んだ2つの追跡検出器と、該撮像されるべき物体の反対側に順番に並んだ2つの追跡検出器と、熱量計と、コンピュータクラスタとを含み、該追跡検出器は、プラスチックシンチレーションファイバを含む、システム。
IPC (4件):
G01T 1/20
, G01T 1/00
, G01T 1/12
, G01T 1/203
FI (6件):
G01T1/20 B
, G01T1/00 A
, G01T1/12
, G01T1/20 E
, G01T1/20 G
, G01T1/203
Fターム (11件):
2G088AA01
, 2G088EE02
, 2G088FF07
, 2G088GG10
, 2G088GG11
, 2G088GG15
, 2G088GG18
, 2G088GG19
, 2G088JJ05
, 2G088KK29
, 2G088KK33
引用特許:
審査官引用 (1件)
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放射線撮影装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2005-502291
出願人:コモンウェルスサイエンティフィックアンドインダストリアルリサーチオーガニゼーション
引用文献:
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