特許
J-GLOBAL ID：201303085703660367
RFIDタグの検査方法及び検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人プロフィック特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-518035
特許番号：特許第5304975号
出願日： 2012年11月26日
要約：
【要約】 集合基材上に配列された複数のRFIDタグに対して一括してその良否を検査可能とすること。
集合基材上に配列された無線信号を処理する複数のRFIDタグに対して、リーダライタから一斉に測定用信号を送信する工程と、前記RFIDタグそれぞれからの応答波をリーダライタにて一括して読み取る工程と、リーダライタで読み取った受信信号の強度及び個数に基づいて、前記RFIDタグそれぞれの良否を判定する工程と、を備えたRFIDタグの検査方法。
請求項（抜粋）：
【請求項1】 集合基材上に配列された無線信号を処理する複数のRFIDタグに対して、リーダライタから一斉に測定用信号を送信する工程と、
前記RFIDタグそれぞれからの応答波をリーダライタにて一括して読み取る工程と、
リーダライタで読み取った受信信号の強度及び個数に基づいて、前記RFIDタグそれぞれの良否を判定する工程と、
を備えたことを特徴とするRFIDタグの検査方法。
IPC (2件)：
G06K 17/00 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
G06K 17/00 F
, G06K 17/00 B
, G01R 31/28 Y
