特許
J-GLOBAL ID：201303085851992859
放射線画像における微小石灰化検出および分類
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
片寄 恭三
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-508073
公開番号（公開出願番号）：特表2013-525009
出願日： 2011年04月29日
公開日（公表日）： 2013年06月20日
要約：
【解決手段】 デジタル化された画像の分析が提供される。デジタル化された画像は、第1の畳み込まれた画像を形成するよう繰り返し畳み込まれる。第1の畳み込まれた画像は、再び畳み込まれて第2の畳み込まれた画像を形成する。各第1の畳み込まれた画像と第2の畳み込まれた画像のそれぞれはステージを表し、各ステージは、異常の異なるスケールおよびサイズを表す。一例として、第1の畳み込みは、ガウシアンコンボルバ(Gaussian convolver)を使用することができ、第2の畳み込みはラプラシアンコンボルバ(Laplacian convlover)を使用することができ、他のコンボルバも使用され得る。現ステージからの第2の畳み込まれた画像および前ステージからの第1の畳み込まれた画像は、ピーク、もしくは特定のスケールのその他の異常候補を検出するピーク検出器によって、現ステージからの第2の畳み込まれた画像から決定される周辺中央値を有して使用される。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
画像の異常を検出する方法であって、当該方法は、
デジタル画像を畳み込みし、異なるスケールで複数の第1の畳み込まれた画像を生成し、
前記複数の第1の畳み込まれた画像の各々を畳み込みし、これにより、複数の第2の畳み込まれた画像を生成し、複数の第1の畳み込まれた画像の各々および複数の第2の畳み込まれた画像の対応する1つは、複数のステージの各々に対応し、
複数のサージェリーマスクを生成し、各サージェリーマスクは、現在のステージの複数の第2の畳み込まれた画像の1つと、前のステージからの複数の第2の畳み込まれた画像の1つとに少なくともある程度基づくものであり、
複数のサージェリーマスクの各ピクセル位置についての周辺中央値を決定し、
現在のステージからの第2の畳み込まれた画像、前のステージからの第1の畳み込まれた画像、および現在のステージについての周辺中央値に少なくとも基づき1つもしくはそれ以上のピークを識別する、方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B6/00 350D
, G06T1/00 290A
4C093DA06
, 4C093FD03
, 4C093FD05
, 4C093FD08
, 4C093FD09
, 4C093FD12
, 4C093FD13
, 4C093FF06
, 4C093FF17
, 4C093FF18
, 5B057AA08
, 5B057BA03
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CE06
, 5B057CH09
, 5B057DA04
, 5B057DA08
, 5B057DC09
, 5B057DC14
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5B057DC36
