特許
J-GLOBAL ID：201303087514909969

外観検査方法および外観検査装置

発明者：
秋山 吉宏

秋山 吉宏 について


出願人/特許権者：
株式会社サキコーポレーション

株式会社サキコーポレーション について


代理人 (1件)： 森下 賢樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-377877
公開番号（公開出願番号）：特開2002-183712
特許番号：特許第4746740号
出願日： 2000年12月12日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 プリント基板に搭載される電子部品の実装状態を検査する外観検査装置において、 前記プリント基板を走査することにより前記プリント基板の画像データを取得する走査ユニットと、 前記取得された画像データに含まれる前記電子部品の画像領域から文字を抽出し、前記抽出された文字を認識する認識ユニットと、 前記電子部品の属性情報を示す文字列の候補を含む候補辞書を保持する候補辞書保持部と、 前記認識された文字によって形成される文字列の中に前記電子部品の属性情報を示す文字列の候補に合致しない一の文字が含まれている場合、当該合致しない一の文字を前記電子部品の属性情報を示す文字列の候補に合致する他の文字に変換することにより、前記候補辞書に保持される前記電子部品の属性情報を示す文字列の候補から前記認識された文字によって形成される文字列の候補を選択する解析ユニットと、 前記選択された文字列の候補に基づき前記電子部品の実装状態の合否を判定する判定ユニットと、を備えることを特徴とする外観検査装置。
IPC (2件)：
G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/956 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G06T 1/00 305 B ,  G01N 21/956 B
引用特許：
審査官引用 (4件)
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