特許

J-GLOBAL ID：201303088229987812

光学分析装置及び光学分析方法

発明者： 梶原 淳志 ,  甲斐 慎一 ,  市村 功 ,  瀬川 雄司
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-169993
公開番号（公開出願番号）：特開2013-033008
出願日： 2011年08月03日
公開日（公表日）： 2013年02月14日
要約：

【課題】 検出精度が良好な光学分析装置を提供すること。【解決手段】 単数又は複数の光源から入射された光を反応領域のそれぞれに導光する導光板と、前記反応領域内からの光の出射方向を制限する遮光構造体と、前記励起光の照射により前記反応領域内から発生する光を検出する検出系とを、備える光学分析装置;単数又は複数の光源から照射された光が導光板にて反応領域のそれぞれに導光され、該反応領域内から発生する光を光の射出方向に制限する遮光構造体を経て検出系にて検出する光学分析方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源から入射された光を反応領域のそれぞれに導光する導光板と、 前記反応領域内からの光の出射方向を制限する遮光構造体と、 前記励起光の照射により前記反応領域内から発生する光を検出する検出系とを、 備える光学分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/64 ,  G01N 21/78 ,  C12M 1/00

FI (4件)：

G01N21/64 F ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/78 C ,  C12M1/00 A

Fターム (42件)：

2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043GA07 ,  2G043GB17 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G054AA06 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054EA04 ,  2G054EA05 ,  2G054EB03 ,  2G054EB04 ,  2G054FA12 ,  2G054FA16 ,  2G054FA17 ,  2G054FA19 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FA34 ,  2G054GA02 ,  2G054GA03 ,  2G054GA04 ,  2G054GA05 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029FA15