特許
J-GLOBAL ID:201303088290963462
UVインデックス測定装置および測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人みのり特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-065230
公開番号(公開出願番号):特開2013-195338
出願日: 2012年03月22日
公開日(公表日): 2013年09月30日
要約:
【課題】UVインデックスを精度良く測定することができる持ち運び可能なUVインデックス測定装置、およびUVインデックス測定方法を提供する。【解決手段】本発明に係るUVインデックス測定装置は、特定波長の光を透過させる光フィルタと、光フィルタの透過光を検出するワイドギャップ半導体からなる光センサと、光センサの出力値に基づいてUVインデックスを求める演算手段とを備え、光センサがCIE作用スペクトルに近似したカットオフ特性を有し、光センサの長波長側のカットオフ波長λsと光フィルタの長波長側のカットオフ波長λfとの間に“λf>λs”の関係があることを特徴とする。【選択図】図5
請求項(抜粋):
特定波長の光を透過させる光フィルタと、前記光フィルタの透過光を検出するワイドギャップ半導体からなる光センサと、前記光センサの出力値に基づいてUVインデックスを求める演算手段とを備え、
前記光センサは、CIE作用スペクトルに近似したカットオフ特性を有し、
前記光センサの長波長側のカットオフ波長λsと前記光フィルタの長波長側のカットオフ波長λfとの間に、“λf>λs”の関係があることを特徴とするUVインデックス測定装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (6件):
2G065AA04
, 2G065AB05
, 2G065BA02
, 2G065BB05
, 2G065BB26
, 2G065BC31
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