特許
J-GLOBAL ID：201303091322756040
解析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森下 賢樹
, 村田 雄祐
, 三木 友由
, 富所 輝観夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-046390
公開番号（公開出願番号）：特開2013-183551
出願日： 2012年03月02日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
要約：
【課題】シミュレーションにおいて磁気的な現象を好適に扱える解析技術を提供する。【解決手段】解析装置100は、仮想空間内に定義される粒子系の情報を取得する粒子系取得部108と、粒子系の粒子に磁気モーメントを付与する磁気モーメント付与部110と、磁気モーメント付与部110によって磁気モーメントが付与された粒子を含む粒子系の各粒子の運動を支配する支配方程式を数値的に演算する数値演算部120と、数値演算部120における演算結果を使用して、粒子系が生成する磁場を演算する磁場演算部132と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
仮想空間内に定義される粒子系の粒子に磁気モーメントを付与する磁気モーメント付与部と、
前記磁気モーメント付与部によって磁気モーメントが付与された粒子を含む粒子系の各粒子の運動を支配する支配方程式を数値的に演算する数値演算部と、
前記数値演算部における演算結果を使用して、粒子系に関連する磁気的な物理量を演算する磁気的物理量演算部と、を備えることを特徴とする解析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5H501BB09
, 5H501DD01
, 5H501JJ03
出願人引用 (1件)
-
解析装置および解析方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2010-128664
出願人：住友重機械工業株式会社
審査官引用 (1件)
-
解析装置および解析方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願2010-128664
出願人：住友重機械工業株式会社
引用文献：
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