特許
J-GLOBAL ID：201303091461225083

収納物検査装置および収納物検査方法

発明者：
中西 英俊

中西 英俊 について


出願人/特許権者：
大日本スクリーン製造株式会社

大日本スクリーン製造株式会社 について


代理人 (2件)： 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-043290
公開番号（公開出願番号）：特開2013-178212
出願日： 2012年02月29日
公開日（公表日）： 2013年09月09日
要約：
【課題】電磁波を用いた収納物に関する検査を幅広く適用するための技術を提供する。【解決手段】収納物検査装置1は、収納体91に収納されている収納物93を検査する。収納物検査装置1は、収納体91にテラヘルツ波を照射する電磁波照射部11,13と、収納体91または収納物93を透過または反射したテラヘルツ波を検出する透過波検出部21および反射波検出部23と、解析部80とを備えている。解析部80は、透過波検出部21または反射波検出部23による検出結果から、テラヘルツ波を吸収または反射するインクで前記収納体の表面に記録されている情報コード95を読み取ることによって、収納物93に関する文字情報を取得する。また、解析部80は、透過波検出部21または反射波検出部23によって取得される、収納物93を透過または反射したテラヘルツ波の検出結果に基づき、収納物93に関する情報を取得する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
収納体に収納されている収納物を検査する収納物検査装置において、 前記収納体に電磁波を照射する電磁波照射部と、 前記収納体または収納物を透過または反射した前記電磁波を検出する検出部と、 前記検出部による検出結果から、前記電磁波を吸収または反射するインクで前記収納体の表面に記録されている情報コードを読み取ることによって、前記収納物に関する第一情報を取得する第一情報取得部と、 前記検出部によって取得される、前記収納物を透過または反射した前記電磁波の検出結果に基づいて、前記収納物に関する第二情報を取得する第二情報取得部と、 を備えている、収納物検査装置。
IPC (1件)：
G01N 21/35
FI (2件)：
G01N21/35 Z ,  G01N21/35 A
Fターム (14件)：
2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059BB15 ,  2G059CC09 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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