特許

J-GLOBAL ID：201303091855831353

表示装置

発明者： 新居 誠介
出願人/特許権者： 京セラ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-142989
公開番号（公開出願番号）：特開2013-011663
出願日： 2011年06月28日
公開日（公表日）： 2013年01月17日
要約：

【課題】高い作業効率および高い検査精度で欠けもしくはクラックを検査可能な表示装置を提供することである。 【解決手段】本発明に係る表示装置1は、第1主面22aに表示領域EDを有する第2基板22と、第2基板22の第1主面22a上に集中的に設けられた外部接続用の複数の電極端子WCPと、第2基板22上に第2基板22の外周に沿って1ヶ所で切れた環状に設けられた検査用配線Tと、検査用配線Tの一方端側に接続された第1検査用電極TP1と、検査用配線Tの他方端側に接続された第2検査用電極TP2とを備えており、第1検査用電極TP1および第2検査用電極TP2は、複数の電極端子WCPとともに集中的に配置されていることを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

主面に表示領域を有する基板と、前記基板の前記主面上に集中的に設けられた外部接続用の複数の電極端子と、前記基板上に前記基板の外周に沿って1ヶ所で切れた環状に設けられた検査用配線と、前記検査用配線の一方端側に接続された第1検査用電極と、前記検査用配線の他方端側に接続された第2検査用電極とを備えており、 前記第1検査用電極および前記第2検査用電極は、複数の前記電極端子とともに集中的に配置されていることを特徴とする表示装置。

IPC (6件)：

G09F 9/30 ,  G02F 1/13 ,  H01L 51/50 ,  H05B 33/14 ,  H05B 33/06 ,  G02F 1/134

FI (6件)：

G09F9/30 330Z ,  G02F1/13 101 ,  H05B33/14 A ,  H05B33/14 Z ,  H05B33/06 ,  G02F1/1345

Fターム (29件)：

2H088FA11 ,  2H088HA01 ,  2H088HA02 ,  2H088MA20 ,  2H092GA44 ,  2H092GA48 ,  2H092GA60 ,  2H092GA61 ,  2H092HA12 ,  2H092HA25 ,  2H092JB77 ,  2H092MA56 ,  2H092NA30 ,  2H092PA01 ,  3K107AA01 ,  3K107AA05 ,  3K107BB01 ,  3K107CC45 ,  3K107DD38 ,  3K107DD39 ,  3K107GG56 ,  5C094AA43 ,  5C094BA27 ,  5C094BA31 ,  5C094BA33 ,  5C094BA43 ,  5C094DB02 ,  5C094EA03 ,  5C094FB12