特許
J-GLOBAL ID：201303092417351574
AD変換器の検査回路及びAD変換器の検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-047933
公開番号（公開出願番号）：特開2013-183411
出願日： 2012年03月05日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
要約：
【課題】複数のAD変換器の変換結果を時分割で評価すると、検査精度が低下してしまう。そのため、検査精度を低下させることなく、複数チャンネルを備えるAD変換器を並列に検査し、検査時間を削減するAD変換器の検査回路及びAD変換器の検査方法が、望まれる。【解決手段】AD変換器の検査回路は、複数のAD変換器の出力するデジタル信号を受け付けると共に、テスタより出力されるカウントUP信号に基づいて、複数のAD変換器が出力すべき期待値を生成し、複数のAD変換器の出力する変換結果のうち、期待値から最も乖離する変換結果をテスタに出力する変換結果検証回路を備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数のAD変換器の出力するデジタル信号を受け付けると共に、テスタより出力されるカウントUP信号に基づいて、前記複数のAD変換器が出力すべき期待値を生成し、前記複数のAD変換器の出力する変換結果のうち、前記期待値から最も乖離する変換結果を前記テスタに出力する変換結果検証回路を備えることを特徴とするAD変換器の検査回路。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (13件)：
2G132AA11
, 2G132AA12
, 2G132AC03
, 2G132AD01
, 2G132AL09
, 2G132AL26
, 2G132AL33
, 5J022AA01
, 5J022AC04
, 5J022CB06
, 5J022CC02
, 5J022CE05
, 5J022CF01
