特許
J-GLOBAL ID:201303093707998195

二次電池、二次電池の検査装置および検査方法、ならびに、電池検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人深見特許事務所
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2010059510
公開番号(公開出願番号):WO2011-151918
出願日: 2010年06月04日
公開日(公表日): 2011年12月08日
要約:
直列接続された複数の電池セル(BC(1)〜BC(n))とそれぞれ並列に複数の検出ユニット(DU(1)〜DU(n))が接続される。各検出ユニット(DU)は、直列に接続される、インダクタ(42)およびツェナーダイオード(45)を含む。バッテリチェッカ50は、閉回路を形成する、複数の検出インダクタ(52(1)〜52(n))および単一の電圧計(55)を含む。複数の検出インダクタ(52(1)〜52(n))は、複数の検出ユニットのインダクタ(42(1)〜42(n))とそれぞれ磁気結合するように配置される。各ツェナーダイオード(45)は、電池セル(BC)の出力電圧によって逆バイアスされる極性で接続される。ツェナーダイオード(45)の降伏電圧((Vz(1)〜Vz(n))は、通常使用時における各電池セル(BC)の出力電圧よりも高く、かつ、段階的に異なる電圧に設定される。
請求項(抜粋):
直列に接続された複数の電池セル(BC(1)〜BC(n))と、 前記複数の電池セルのそれぞれに並列に接続された複数の検出ユニット(DU(1)〜DU(n))とを備え、 前記複数の検出ユニットの各々は、直列接続されたリアクトル(42)およびツェナーダイオード(45)を含み、 各前記ツェナーダイオードの降伏電圧(Vz)は、各前記電池セルの使用時における出力電圧よりも高く、 前記複数の検出ユニットのそれぞれの前記ツェナーダイオードの降伏電圧(Vz(1)〜Vz(n))は段階的に異なる値に設計される、二次電池。
IPC (5件):
G01R 31/36 ,  H01M 10/44 ,  H01M 10/48 ,  H01M 2/10 ,  H02J 7/00
FI (6件):
G01R31/36 A ,  H01M10/44 Q ,  H01M10/48 P ,  H01M10/48 Z ,  H01M2/10 E ,  H02J7/00 Q
Fターム (34件):
2G016CA03 ,  2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB14 ,  2G016CC01 ,  2G016CC02 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC10 ,  2G016CC23 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CD09 ,  2G016CF01 ,  2G016CF07 ,  5G503BA03 ,  5G503BB01 ,  5G503CA11 ,  5G503EA08 ,  5G503FA06 ,  5G503FA19 ,  5H030AA06 ,  5H030AS08 ,  5H030BB01 ,  5H030FF41 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF51 ,  5H040AA06 ,  5H040AS07 ,  5H040AY05 ,  5H040AY08 ,  5H040NN03

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