特許
J-GLOBAL ID：201303094226160275
三次元計測装置、三次元計測方法及び三次元計測プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
近島 一夫
, 大田 隆史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-079950
公開番号（公開出願番号）：特開2013-210254
出願日： 2012年03月30日
公開日（公表日）： 2013年10月10日
要約：
【課題】色による輝線の識別とは別の方法にて、画像上の輝線と光切断面との対応付けが可能な三次元計測装置及び三次元計測方法を提供する。【解決手段】三次元計測装置1は、ワーク2に投光器7にスリット光を照射し、このスリット光が照射されたワークをステレオカメラ5により撮像する。三次元計測装置1の制御装置10は、この撮像したステレオ画像の内、第1画像に写る輝線4jを光切断面6Pjと仮に対応付け、この光切断面6Pjに投影する。そして、この光切断面6Pjに投影した輝線を第2画像上に投影する。制御装置10は、第2画像上に投影された輝線4jXと第2画像上の輝線の一致度を演算し、この対応関係の正否を判断する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ワークにスリット光を照射する投光器と、
前記スリット光が照射されたワークを撮像する第1カメラと、
前記第1カメラとは異なる視線から前記スリット光が照射されたワークを撮像する第2カメラと、
前記スリット光の光切断面の三次元平面式を記憶していると共に、前記スリット光の照射により前記第1カメラによって撮像された第1画像上に生じた輝線、前記スリット光の照射により前記第2カメラによって撮像された第2画像上に生じた輝線及び前記光切断面の対応付けを行い、これら第1画像上の輝線、第2画像上の輝線及び光切断面のいずれかの対応関係を利用して三角測量の原理によりワークの三次元計測を行う制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記第1画像上の輝線と前記光切断面とを仮に対応付け、この第1画像上の輝線を三次元仮想空間上にて前記光切断面に一旦投影した後に該光切断面を介して前記第2カメラにより撮像された第2画像上に投影し、この第2画像上に投影された前記第1画像上の輝線と前記第2画像上の輝線との一致度に基づいて前記光切断面と前記第1及び第2カメラの画像上の輝線との対応付けを行う、
ことを特徴とする三次元計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/00 H
, G01B11/25 H
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD03
, 2F065DD09
, 2F065EE00
, 2F065EE08
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065FF42
, 2F065FF61
, 2F065HH06
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065QQ38
, 2F065RR09
, 2F065UU05
