特許

J-GLOBAL ID：201303094230738460

位相測定用システムと方法

発明者： クリストフアー・エム・フアング-イエン ,  ガブリール・ポペス ,  チヤングエイ・ヤング ,  アダム・ピー・ワツクス ,  ラマチヤンドラ・アール・ダサリ ,  マイケル・エス・フエルド
出願人/特許権者： マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
代理人 (1件)： 特許業務法人小田島特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-077045
公開番号（公開出願番号）：特開2013-152243
出願日： 2013年04月02日
公開日（公表日）： 2013年08月08日
要約：

【課題】位相ノイズの問題に取り組む位相測定用システムを提供する。【解決手段】干渉計検査及び/又は位相測定の原理に基づくシステムを含み、細胞生理学を研究するため使われる。これらのシステムは位相を測定するために光学的干渉計を使う低コヒーレンス干渉計検査(LCI)又は細胞部分自身内の干渉が使われる光散乱スペクトロスコピー(LSS)の原理を含むか、又は代わりにLCI及びLSSの原理が組み合わされる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

物質の位相画像化のための光変調システムに於いて、 物質に光学的に連結された光源と、 空間周波数を変調するように物質からの光を位相変調器に接続する光学装置と、 物質の位相画像を検出するように位相変調器からの光を受ける画像検出器と、 を具備することを特徴とするシステム。

IPC (1件)：

G01N 21/17

FI (1件)：

G01N21/17 630

Fターム (14件)：

2G059BB14 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-192665   出願人：オリンパス光学工業株式会社