特許

J-GLOBAL ID：201303095222390728

外来磁界測定方法、外来磁界測定装置およびコンピュータプログラム

発明者： 石岡 俊哉
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-107515
公開番号（公開出願番号）：特開2013-233284
出願日： 2012年05月09日
公開日（公表日）： 2013年11月21日
要約：

【課題】 線撮像装置における撮像に影響を与える外来磁界を容易に測定することができるようにする。【解決手段】 磁界画像の位置とその位置での画素値を含む磁界画像の特徴量と、X線撮像装置100から見たときの磁界発生源Hの方向との関係を予めデータベース114に記憶しておく。その後、X線撮像装置100で撮影されたダーク画像から作成された磁界画像と、データベース114に記憶された関係とに基づいて、X線撮像装置100から見たときの磁界発生源Hの方向を特定する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被写体を透過したX線に基づいて当該被写体の画像を撮像するX線撮像装置に対する外来磁界を測定する外来磁界測定方法であって、 既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、X線を照射せずに前記X線撮像装置により画像を撮像する撮像工程と、 磁界が印加されていない状態であり、且つ、被写体がない状態で、X線を照射せずに前記X線撮像装置により撮像された画像である基準画像と、前記撮像工程により撮像された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する磁界画像導出工程と、 前記磁界画像導出工程により導出された磁界画像の特徴量を導出する磁界画像特徴量導出工程と、 前記磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像の特徴量と、当該磁界画像に起因する磁界が印加された方向との関係を示す磁界発生源特定情報を記憶媒体に記憶する記憶工程と、を有することを特徴とする外来磁界測定方法。

IPC (4件)：

A61B 6/00 ,  G01N 23/04 ,  G01T 1/167 ,  G01T 7/00

FI (4件)：

A61B6/00 390Z ,  G01N23/04 ,  G01T1/167 H ,  G01T7/00 C

Fターム (34件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA09 ,  2G001FA20 ,  2G001FA29 ,  2G001GA06 ,  2G001GA10 ,  2G001HA07 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001SA05 ,  2G001SA06 ,  2G088GG19 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK32 ,  2G088LL11 ,  2G088LL24 ,  2G188CC22 ,  2G188CC28 ,  2G188DD05 ,  2G188EE36 ,  2G188FF00 ,  2G188FF11 ,  4C093AA01 ,  4C093CA06 ,  4C093CA41 ,  4C093EE30 ,  4C093FC30 ,  4C093FF21 ,  4C093FF33 ,  4C093GA05