特許

J-GLOBAL ID：201303095673084302

リチウムデンドライトの析出判定方法及びリチウムデンドライトの析出判定装置

発明者： 櫻井 庸司 ,  千坂 光陽 ,  岩田 真治 ,  宮田 雅彦
出願人/特許権者： 国立大学法人豊橋技術科学大学 ,  株式会社東海理化電機製作所
代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-227068
公開番号（公開出願番号）：特開2013-089363
出願日： 2011年10月14日
公開日（公表日）： 2013年05月13日
要約：

【課題】定電流充電時におけるリチウムデンドライトの析出を検出できるリチウムデンドライトの析出判定方法を提供する。【解決手段】リチウムデンドライトの析出判定方法は、定電流充電によって徐々に上昇する電池電圧Vの時間t当たりの変化量(dV/dt)を検出し、電池電圧Vの時間t当たりの変化量(dV/dt)の極小値近傍からリチウムデンドライトが析出したと判定する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

リチウムイオン電池の定電流充電におけるリチウムデンドライトの析出判定方法であって、 前記定電流充電によって徐々に上昇する電池電圧の時間当たり変化量を検出し、前記電池電圧の時間当たり変化量の極小値近傍からリチウムデンドライトが析出したと判定する ことを特徴とするリチウムデンドライトの析出判定方法。

IPC (6件)：

H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H02J 7/00 ,  H01M 10/42 ,  H01M 10/44 ,  H01M 10/052

FI (6件)：

H01M10/48 A ,  G01R31/36 A ,  H02J7/00 Q ,  H01M10/42 Z ,  H01M10/44 A ,  H01M10/00 103

Fターム (24件)：

2G016CB05 ,  2G016CB23 ,  2G016CB33 ,  2G016CC01 ,  2G016CC04 ,  2G016CC20 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  5G503AA01 ,  5G503BA01 ,  5G503BB02 ,  5G503CA03 ,  5G503CA17 ,  5G503EA09 ,  5H029AJ12 ,  5H029AJ14 ,  5H029AK03 ,  5H029AL07 ,  5H029AM03 ,  5H029AM07 ,  5H030AA10 ,  5H030BB03 ,  5H030FF43 ,  5H030FF52