特許
J-GLOBAL ID：201303097810155894
時間領域分光法における測定精度を向上させるための連続リファレンス
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
小野 新次郎
, 小林 泰
, 富田 博行
, 星野 修
, 上田 忠
, 大房 直樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-525093
公開番号（公開出願番号）：特表2013-536422
出願日： 2011年08月19日
公開日（公表日）： 2013年09月19日
要約：
連続したリファレンスを生成しそれによりサンプルパルスの位相と振幅が観測され補正されることを可能とする時間領域分光システムに組み込むための装置は、ビームスプリッタを利用してサンプルパルスとリファレンスパルスを発生させる。サンプルと相互作用しないリファレンス放射パルスを受信するために、検出器が配置される。当該検出器は、サンプルから生じたサンプル放射パルスを受信するためにも配置されている。この装置は、テラヘルツ時間領域分光器の放射源と検出器との間に構成されることによって、容易に実現されることが可能である。サンプルパルスの時間と振幅の変化を観測するために、リファレンスパルスが利用される。リファレンスパルスにおけるどんな変化も、ほとんどの場合サンプルパルスに現れるので、サンプルパルスを補正しそれによってジッタの影響を低減するために、リファレンスパルスがモニタされ利用される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
サンプルの少なくとも1つの特性を測定するための連続リファレンスを有する装置であって、
放射パルス(20)を発生する放射源(4)と、
リファレンス放射パルス(22)と前記サンプル(14)に向かうサンプル放射パルス(24)とをもたらすように前記放射パルス(8)を分離するための手段と、
前記サンプル(14)と相互作用しない前記リファレンス放射パルス(22)と前記サンプルから生じる前記サンプル放射パルス(24)とを受信するために配置された検出器(6)と、
を備えた装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/35 106
, G01N21/41 Z
2G059AA01
, 2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059CC09
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059EE17
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059MM01
, 2G059NN01
